線(xiàn)掃描膜厚儀（離線(xiàn)型） 參考價(jià)：面議
●全面高速高精度進(jìn)行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測(cè)●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠(chǎng)商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已取得專(zhuān)zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量...
線(xiàn)掃描膜厚儀（在線(xiàn)型） 參考價(jià)：面議
●采用線(xiàn)掃描方式檢測(cè)整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)●作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠(chǎng)商，提供多種支援●實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取專(zhuān)zhuan利）●實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量●不受偏差影響●可...
紫外分光配光測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
●通過(guò)分光光度分布對(duì)紫外光進(jìn)行高精度測(cè)量●從配光上評(píng)估紫外光的最大發(fā)光強(qiáng)度、光束開(kāi)度、光束光通量●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應(yīng)...
紫外分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) New 參考價(jià)：面議
●該檢測(cè)器是一種高性能的分光光度計(jì)，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過(guò)程測(cè)量等方面取得了多項(xiàng)成果。●覆蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的寬波長(zhǎng)范圍●帶軟件的樣品照明電源，測(cè)量?jī)x器...
紫外分光全光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
●具有高靈敏度檢測(cè)器的寬測(cè)量范圍●具有紫外線(xiàn)自吸收校正的高精度測(cè)量●配備溫度控制單元，可從-110°C進(jìn)行溫度控制●涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(zhǎng)范圍●電源...
相位差測(cè)量裝置 RETS-100nx New 參考價(jià)：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
液晶層間隙量測(cè)設(shè)備 RETS series 參考價(jià)：面議
采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備
橢偏儀 FE-5000/5000S 參考價(jià)：面議
●可在紫外和可見(jiàn)（250至800nm）波長(zhǎng)區(qū)域中測(cè)量橢圓參數(shù)●可分析納米級(jí)多層薄膜的厚度●可以通過(guò)超過(guò)400ch的多通道光譜快速測(cè)量Ellipso光譜●通過(guò)可變...
總光譜光通量測(cè)量系統(tǒng) HM/FM series 參考價(jià)：面議
●可處理高達(dá)2400mm的直管光學(xué)總光通量測(cè)量●測(cè)量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標(biāo)準(zhǔn)●采用新的探測(cè)器，可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測(cè)量●測(cè)量部分的尺寸（積...
彩色濾光片、光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES 參考價(jià)：面議
以透過(guò)光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過(guò)濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
嵌入式膜厚檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專(zhuān)zhuan利 第4834847號(hào)）● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng)● 可嵌入至各種制造設(shè)備。● 實(shí)時(shí)測(cè)...
小角激光散射儀 PP-1000 參考價(jià)：面議
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡(jiǎn)稱(chēng)SALS），可以對(duì)高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測(cè)，...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 參考價(jià)：面議
以最zui高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。 我們可以根據(jù)客戶(hù)的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備
多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA 參考價(jià)：面議
nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了...
粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶AS50） 參考價(jià)：面議
●1個(gè)單元可輕松連續(xù)測(cè)量5個(gè)樣品?！駥?shí)現(xiàn)了在沒(méi)有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量?！駱?biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間為1分鐘的高...
分光配光測(cè)量系統(tǒng) GP series 參考價(jià)：面議
●支持長(zhǎng)達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測(cè)量●還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測(cè)量●可以自動(dòng)控制2軸測(cè)角儀測(cè)量每個(gè)角度的光譜分布，并通過(guò)球帶系數(shù)...
分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過(guò)程測(cè)量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光和可見(jiàn)光到紅外線(xiàn)的寬波長(zhǎng)范圍
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價(jià)：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè)●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測(cè)●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測(cè)●可對(duì)應(yīng)長(zhǎng)工作距離、且容易安裝...
光波場(chǎng)三維顯微鏡 MINUK 參考價(jià)：面議
MINUK是一種可以評(píng)估納米量級(jí)的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無(wú)損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測(cè)量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價(jià)：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價(jià)：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位● 可以測(cè)量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價(jià)：面議
ELSZ series的最zu高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價(jià)：面議
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置?！襁m用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價(jià)：面議
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線(xiàn)提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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