首頁(yè)>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>半導(dǎo)體多功能測(cè)試
少子壽命/ μ LBIC變溫測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和...
WT-2000半導(dǎo)體多功能測(cè)試 參考價(jià)：面議
WT-2000提供349nm，904nm，1064nm，1550nm等不同激發(fā)光，適合Si，SiC，GaAs，CdZnTe，InGaAs等各種材料電學(xué)參數(shù)測(cè)試。
WT-1200A 單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
WT-1200A 是單點(diǎn)式少子壽命測(cè)試系統(tǒng)，具備無(wú)接觸等優(yōu)點(diǎn)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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