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高光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高光譜測(cè)試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng)，其原理新穎，相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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