目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> 紫外分光配光測量系統(tǒng)
紫外線輻射強度或輻照度中的光分布角分布
最大光度、光束開度、光束光通量
輻射通量、輻射強度、輻照度
總光通量
光譜數(shù)據(jù)
根據(jù)配光測量系統(tǒng)的測量項目
總光通量、色度坐標xy、uv、u’v’相關色溫、Duv、主波長、刺激純度顯
色指數(shù)Ra、R1至R15
峰值波長、半值范圍
* 1:測量期間安裝樣品的方向。
底座朝下:水平面安裝
底座側:垂直面 安裝
*2:配光測量的測量波長范圍為250~850nm
*3:可選產品請參考總光通量測量系統(tǒng)規(guī)格頁.
桌面型設備。將 LED 芯片放置在水平面上并進行測量。
受光部一側為1軸,樣品側為1軸的驅動系統(tǒng)。
由于樣品可以放置在平坦的表面上,因此測量再現(xiàn)性和位置調整很容易。
適用于測量LED芯片等不易安裝的小樣品。
桌面型設備。這是一般配光裝置的光學系統(tǒng)。
受光部分與樣品部分高度相同,樣品側采用2軸驅動系統(tǒng)。
它可以處理從芯片類型到小模塊樣品的廣泛產品。
大型設備。安裝需要一個使用一個暗室的地方。
該設備用于測量大而重的光源,如泛光燈。
這是用光譜光分布測量 UV-LED 的結果。
根據(jù)輻射強度繪制配光曲線。
通過對光分布測量得到的每個θ處的光譜輻射強度
使用球面系數(shù)法,可以得到UV-LED發(fā)射的總光譜通量。