目錄:上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>光譜系統(tǒng)>>顯微缺陷膜厚>> ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE
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更新時(shí)間：2024-11-08 13:21:49瀏覽次數(shù)：113評(píng)價(jià)
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● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)
● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位
● 可以測(cè)量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位
● 可以在高鹽濃度下測(cè)定平板狀樣品的zeta電位
● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量
● 通過(guò)溫度梯度功能，可對(duì)蛋白質(zhì)等的變性及相變溫度進(jìn)行解析
● 通過(guò)樣品池內(nèi)的實(shí)測(cè)電氣浸透流圖分析，提供高精度的ZETA電位測(cè)量結(jié)果
● 可安裝熒光濾光器(選配)
非常適用于界面化學(xué)、無(wú)機(jī)物質(zhì)、半導(dǎo)體、聚合物、生物學(xué)、制藥和醫(yī)學(xué)領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和應(yīng)用研究，不僅涉及微小顆粒，還涉及薄膜和平板表面的科學(xué)研究。
●新型功能材料領(lǐng)域
– 燃料電池相關(guān)（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）
– 納米生物相關(guān)（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。
●陶瓷/著色材料工業(yè)領(lǐng)域
– 陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）
– 無(wú)機(jī)溶膠的表面改性/分散/聚集控制
– 顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機(jī)顏料）
– 漿料狀樣品
– 濾光器
– 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
●半導(dǎo)體領(lǐng)域
– 異物附著在硅晶片表面的原理解析
– 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
– CMP漿料的相互作用
●聚合物/化工領(lǐng)域
– 乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫(yī)藥/工業(yè)）
– 聚電解質(zhì)（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能研究
– 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過(guò)程控制和紙漿添加劑研究
●制藥/食品工業(yè)領(lǐng)域
– 乳液（食品/香料/醫(yī)療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質(zhì)的機(jī)能性檢測(cè)
– 脂質(zhì)體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機(jī)能性檢測(cè)
由于溶液中的粒子根據(jù)粒子的大小在做布朗運(yùn)動(dòng)，粒子受到光照射時(shí)會(huì)得到的散射光。小粒子呈現(xiàn)快速波動(dòng)，大粒子呈現(xiàn)緩慢波動(dòng)。
通過(guò)光子相關(guān)法分析這種波動(dòng)，就可以求得粒度和粒度分布。
對(duì)溶液中的粒子施加電場(chǎng)時(shí)，可以觀察到粒子電荷所對(duì)應(yīng)的電泳動(dòng)。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動(dòng)度。
電泳散射法將光照射在泳動(dòng)中的粒子上得到散射光，根據(jù)散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒（Laser Doppler）法。p style="text-align: center;">
電滲流是指在zeta電勢(shì)測(cè)量期間cell內(nèi)發(fā)生的溶液流。當(dāng)cell壁表面 帶電時(shí)，溶液中的抗衡離子會(huì)聚集在cell 壁表面上。當(dāng)施加電場(chǎng)時(shí)， 抗衡離子以相反的符號(hào)移動(dòng)到電極側(cè)，并且在cell 的中心附近發(fā)生 反向流動(dòng)以補(bǔ)償流動(dòng)。 通過(guò)實(shí)際測(cè)量顆粒的表觀電泳遷移率并分析電滲流，可獲得考慮到 cell 污染（例如樣品的吸附和沉降）的影響的正確的靜止面面，并可獲得真實(shí)的zeta電勢(shì)/電泳遷移率。（森?岡本公式參照）
森·岡本公式
充分考慮電滲流后進(jìn)行樣品池內(nèi)泳動(dòng)速度的解析
z:距單元中心位置的距離
Uobs（z）：在單元中位置z處的表觀遷移率
A=1/[（2/3）-（0.420166/k）] k=a/b:2a和2b是電泳單元截面的橫和縱的長(zhǎng)度
上方向：粒子的真實(shí)遷移率
U0:單元上下壁面的平均遷移率
⊿U0:單元上下壁面的遷移率差
LSZ Series通過(guò)實(shí)測(cè)樣品內(nèi)多點(diǎn)觀察到的電泳移動(dòng)度，可以確認(rèn)測(cè)量數(shù)據(jù)內(nèi)ZETA電位分布的再現(xiàn)性及判定雜質(zhì)的波峰。
固體平板樣品池的應(yīng)用
固體平板樣品池是將固體平板樣品緊密接觸于盒型石英樣品池上方而形成一體的構(gòu)造。
實(shí)測(cè)樣品池高度方向各層觀測(cè)粒子的電泳移動(dòng)度，根據(jù)所得到的電滲流Profile可分析出固體表面電滲流速度，進(jìn)而求得平板樣品表面的ZETA電位。
對(duì)于光不易穿透的高濃度樣品或有色樣品，由于受到多重散射和吸收等影響，以往使用的E很難測(cè)量到所需結(jié)果。
但現(xiàn)在，ELSZ series搭載的標(biāo)準(zhǔn)樣品池的測(cè)量范圍擴(kuò)大，可測(cè)量稀溶液樣品及至高濃度溶液樣品，并且，通過(guò)采用FST法的高濃度樣品池可測(cè)量高濃度樣品領(lǐng)域的ZETA電位。
●Zeta電位
●粒徑
| 測(cè)量原理 | 粒徑 | 動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法） |
| ZETA電位 | 電泳光散射法（激光多普勒法） | |
| 分子量 | 靜態(tài)光散射法 | |
| 光學(xué)系統(tǒng) | 粒徑 | 零差光學(xué)系統(tǒng) |
| ZETA電位 | 外差光學(xué) | |
| 分子量 | 零差光學(xué)系統(tǒng) | |
| 光源 | 高功率半導(dǎo)體激光器 | |
| 探測(cè)器 | 高靈敏度APD | |
| 樣品池單元 | ZETA電位：標(biāo)準(zhǔn)池 微量一次性池或濃縮池 | |
| 粒度/分子量：方形池 | ||
| 溫度 | 0~90℃（帶溫度梯度功能） | |
| 電源 | 220V ± 10% 250VA | |
| 尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
| 重量 | 22Kg | |
| ZETA電位 | No effective limitations（無(wú)有效上限） |
| 電氣移動(dòng)度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
| 粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
●對(duì)應(yīng)范圍
| 測(cè)量溫度范圍 | 0~90℃ |
| 測(cè)量濃度范圍 | Zeta電位：0.001～40% 粒徑：0.00001%（0.1ppm)~40%*1 |
*1（標(biāo)準(zhǔn)粒子： 0.00001 ～ 10%、?；撬幔?nbsp;～ 40%）
可測(cè)量粒子徑與ZETA電位電位的樣品池套件
可測(cè)量粒徑的樣品池套件，可使用市面上的四角樣品槽
可以測(cè)量濃度范圍為0.00001%（0.1ppm）的稀溶液到40%的濃溶液對(duì)應(yīng)的粒徑和ζ電位。
使用靜態(tài)光散射法可以進(jìn)行絕對(duì)分子量的測(cè)定以及第二利比亞系數(shù)的分析
通過(guò)從正面、側(cè)面和背面三個(gè)角度進(jìn)行測(cè)量和分析，我們提供了具有更高分辨率的粒徑分布。
無(wú)法通過(guò)1角測(cè)度量分離的樣品也可以通過(guò)3角度測(cè)量和分析分離為多個(gè)峰。
通過(guò)動(dòng)態(tài)光散射使能夠測(cè)量諸如聚合物和蛋白質(zhì)之類的軟結(jié)構(gòu)的粘彈性。
通過(guò)測(cè)量凝膠樣品在多個(gè)點(diǎn)的散射強(qiáng)度和擴(kuò)散系數(shù)，可以分析凝膠的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和不均勻性。
能夠測(cè)定平板狀或薄膜狀試樣表面zeta電位的單元也可在高鹽濃度環(huán)境下進(jìn)行測(cè)量。
●易于組裝的結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了不使用螺絲的結(jié)構(gòu)
●配備簡(jiǎn)易的涂層，客戶可自行進(jìn)行涂層
●支持小尺寸樣品，10X10mm
可微量（130uL~）測(cè)量ZETA電位的Cell unit
可測(cè)量濃厚懸濁樣品的ZETA電位的Cell unit
可以測(cè)量非極性溶液的ZETA電位cell unit
也可對(duì)應(yīng)介電常數(shù)在10以下的溶劑
可微量（3uL~）測(cè)量粒徑的Cell unit
可自動(dòng)測(cè)量隨著不同pH值或添加劑濃度的粒徑/ZETA電位變化。
可以和Zeta電位平板樣品Cell相連。
可通過(guò)自動(dòng)測(cè)量等電點(diǎn)縮短工作時(shí)間。
實(shí)測(cè)解析分子量時(shí)必bi不可少的參數(shù)dn/dc
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
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