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KRUSS 滴體積法界面張力儀DVT50
KRUSS 滴體積法界面張力儀DVT50表面活性劑作為乳化劑的作用是基于其能降低互不相溶兩相間的界面張力的速度。其應(yīng)用范圍能涵蓋非??斓椒浅B募庸み^(guò)程,這使得...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/4 10:06:38
對(duì)比
KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20KRUSS 氣泡壓力張力儀BP100KRUSS 滴體積法界面張力儀DVT50
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KRUSS 氣泡壓力張力儀BP100
KRUSS 氣泡壓力張力儀BP100氣泡壓力張力儀 – BP100能高精度測(cè)量動(dòng)態(tài)表面張力。通過(guò)對(duì)表面活性劑遷移特性的可靠分析,來(lái)優(yōu)化噴涂、鍍膜、印刷及去污等高...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/4 10:02:38
對(duì)比
KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20KRUSS 氣泡壓力張力儀BP100
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KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20
KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20力學(xué)法表面張力儀–K20是一臺(tái)精確測(cè)量表面張力和界面張力的半自動(dòng)儀器,性能穩(wěn)定可靠。環(huán)法和板法作為主要張力測(cè)試方法,K20為表...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/4 9:56:00
對(duì)比
KRUSS 力學(xué)法表面張力儀K20
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臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀
弗萊貝格 PIDcon bifacial 臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀用于單面及雙面電池,HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微...
型號(hào): PIDcon bi...
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/4 9:38:18
對(duì)比
便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀電位誘發(fā)衰減測(cè)試儀臺(tái)式雙面電池PID測(cè)試儀
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少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 14:01:02
對(duì)比
MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀FreibergMDPspot少子壽命測(cè)試儀
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弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀(PIDcheck)
弗萊貝格 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀(PIDcheck)便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID(電位誘發(fā)衰減)測(cè)試儀,適用于不同類(lèi)型和尺寸的晶體硅組件,無(wú)需拆裝,測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)(測(cè)...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 13:50:14
對(duì)比
便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID測(cè)試儀電位誘發(fā)衰減測(cè)試儀
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MDPspot少子壽命測(cè)試儀
MDPspot少子壽命測(cè)試儀低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚,用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品,無(wú)需內(nèi)置自動(dòng)化??蛇x手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 13:35:35
對(duì)比
MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀FreibergMDPspot少子壽命測(cè)試儀
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MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀
MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器,用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量,從單晶硅磚到多晶硅磚,從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 13:22:01
對(duì)比
MDPlinescan在線(xiàn)少子壽命測(cè)試儀Freiberg
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MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)xMDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具,用于離線(xiàn)生產(chǎn)控制或研發(fā),在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)(μ-PCD)下,在一個(gè)寬的...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 13:15:41
對(duì)比
MDPmap單晶和多晶硅片壽命測(cè)量?jī)x
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電阻率測(cè)試儀(RESmap )
德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀(RESmap )德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀(RESmap )在對(duì)低電...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 11:41:07
對(duì)比
電阻率測(cè)試儀(RESmap )
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晶圓x射線(xiàn)晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD
晶圓x射線(xiàn)晶體定向儀分揀系統(tǒng)XRD晶圓x射線(xiàn)晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 11:28:55
對(duì)比
DDCOM X射線(xiàn)單晶定向儀德國(guó)FreibergX射線(xiàn)晶體定向儀Omega/Theta XRD
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Ingot XRD - 晶錠X射線(xiàn)定向儀
Ingot XRD - 晶錠X射線(xiàn)定向儀晶錠XRD有著優(yōu)良的XRD系統(tǒng),用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Q...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 11:22:06
對(duì)比
DDCOM X射線(xiàn)單晶定向儀德國(guó)FreibergX射線(xiàn)晶體定向儀Omega/Theta XRD
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Advanced體積重量掃碼系統(tǒng)
體積重量掃碼系統(tǒng) TLX MultiCapture™ Advanced包裹的動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)采集.TLX系統(tǒng)具備高速優(yōu)良分揀能力,最大限度恢復(fù)了收入??蓽?zhǔn)確...
型號(hào): TLX Multi...
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/2 11:13:27
對(duì)比
動(dòng)態(tài)包裹體積測(cè)量POWERCELL PDX電子汽車(chē)衡動(dòng)態(tài)稱(chēng)重(WIM)系統(tǒng)TLD870 托盤(pán)體積測(cè)量?jī)x
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手機(jī)面板檢測(cè)儀
手機(jī)面板IR孔測(cè)量?jī)x TMS-micro(I型)基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測(cè)試樣...
型號(hào): VMS-1S
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 18:44:37
對(duì)比
VMS-1S手機(jī)面板檢測(cè)儀韓國(guó)TAPEX
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全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x
全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)xVMS-4030A全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x,為**全自動(dòng)量測(cè)市場(chǎng)定制的一款光學(xué)影像測(cè)量?jī)x,大幅度減少阿貝誤差,提高的測(cè)量準(zhǔn)確度,有效保證各軸穩(wěn)定性、...
型號(hào): VMS-4030A
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 17:56:08
對(duì)比
全自動(dòng)二次元測(cè)量?jī)x
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超大屏觀(guān)察用微分干涉顯微鏡
超大屏觀(guān)察用微分干涉顯微鏡超大屏觀(guān)察用微分干涉顯微鏡(可移除底部工作臺(tái)),ZX-100DIC工業(yè)檢測(cè)顯微鏡適用于對(duì)工件表面的組織結(jié)構(gòu)與幾何形態(tài)進(jìn)行顯示。
型號(hào): ZX-100DIC
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 17:46:36
對(duì)比
微分干涉顯微鏡
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線(xiàn)寬線(xiàn)徑測(cè)量?jī)x
線(xiàn)寬線(xiàn)徑測(cè)量?jī)x線(xiàn)寬線(xiàn)徑測(cè)量?jī)xTDS-12A確保高精度、高可靠性。雖然是手提式、但實(shí)現(xiàn)了1μm顯示,是具有優(yōu)異的測(cè)定結(jié)果穩(wěn)定性、高精度高可靠性的測(cè)長(zhǎng)儀。
型號(hào): TDS-12A
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 17:36:55
對(duì)比
線(xiàn)寬線(xiàn)徑測(cè)量?jī)x
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TMS-MICRO PRO 顯微透過(guò)率測(cè)量?jī)x
TMS-MICRO PRO 顯微透過(guò)率測(cè)量?jī)x基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測(cè)試樣品微...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 17:27:36
對(duì)比
TMS-MICRO PRO 顯微透過(guò)率測(cè)量?jī)x
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手機(jī)面板IR孔測(cè)量?jī)x TMS-micro(I型)
手機(jī)面板IR孔測(cè)量?jī)x TMS-micro(I型)基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行**定位,用小尺寸光斑(0.1mm)測(cè)試樣...
型號(hào):
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 17:14:49
對(duì)比
手機(jī)面板IR孔測(cè)量?jī)xTMS-micro
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玻璃表面應(yīng)力儀
玻璃表面應(yīng)力儀簡(jiǎn)單介紹:通過(guò)測(cè)定透明物體由于內(nèi)應(yīng)力而產(chǎn)生的雙折射現(xiàn)象來(lái)進(jìn)行快速、大量的檢驗(yàn)。廣泛用于光學(xué)玻璃、玻璃制品、透明塑料制品工業(yè)。
型號(hào): FSM-6000L...
所在地:上海市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/11/1 16:53:48
對(duì)比
應(yīng)力儀玻璃表面應(yīng)力儀