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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Freiberg Instruments
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-11-02 13:22:01瀏覽次數(shù):66次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+)
靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器,用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量,從單晶硅磚到多晶硅磚,從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的過(guò)程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口,便于連接到許多處理或自動(dòng)化系統(tǒng)。
產(chǎn)品介紹:
在眾多的少子壽命測(cè)量方法中,MDP(微波檢測(cè)光電導(dǎo)率)采用改進(jìn)的少子壽命檢測(cè)技術(shù),是微波檢測(cè)光電導(dǎo)衰減法檢測(cè)儀中常用的儀器之一,少子壽命測(cè)試儀原理從載流子輸運(yùn)原理出發(fā),建立廣義速率方程和偏微分方程系統(tǒng)。擁有優(yōu)良的靈敏度和分辨率,很大程度提升在線檢測(cè)的速度和質(zhì)量,快速出具少子壽命測(cè)試的實(shí)驗(yàn)報(bào)告。
MDPlinescan被設(shè)計(jì)成一個(gè)易于集成的OEM設(shè)備,可以集成到各種自動(dòng)化檢測(cè)線。關(guān)鍵的是在傳送過(guò)程中進(jìn)行少子壽命掃描。樣品通常由測(cè)量頭下面的傳送帶或機(jī)器人系統(tǒng)攜帶。應(yīng)用實(shí)例包括從晶磚到晶圓檢測(cè),單晶少子壽命測(cè)試、多晶少子壽命測(cè)試,每塊晶圓的測(cè)量速度小于一秒。電池生產(chǎn)線上的來(lái)料質(zhì)量檢查是經(jīng)典的通用案例,也用于鈍化和擴(kuò)散后的工藝質(zhì)量檢查,還有許多其他特殊的應(yīng)用的可能性。易于集成,只需要以太網(wǎng)連接和電源。
MDPlinescan W
包括一個(gè)額外的電阻率測(cè)量選項(xiàng)。
優(yōu)點(diǎn):
◇ 在µ-PCD或穩(wěn)態(tài)激勵(lì)條件下線掃描少數(shù)載流子壽命和電阻率是這個(gè)小型設(shè)備的重要功能;
◇ OEM設(shè)備可以集成到多晶或單晶硅片的生產(chǎn)線上,在不同的制備階段,直至器件、磚塊或晶錠。
◇ 小巧的尺寸和標(biāo)準(zhǔn)的自動(dòng)化接口使其易于集成。重 點(diǎn)是測(cè)量結(jié)果的長(zhǎng)期可靠性和精確性。
示范性線狀掃描圖
細(xì)節(jié):
◇ 允許單晶圓片調(diào)查
◇ 不同的晶圓級(jí)有不同的配方
◇ 監(jiān)控物料、工藝質(zhì)量和穩(wěn)定性
技術(shù)規(guī)格:
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