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Omega/Theta XRD - X射線晶體定向儀Omega/Theta XRD用于超快速的晶體定向、生產中的晶體排列、質量控制、搖擺曲線測量、材料研究等。S...
DDCOM X射線單晶定向儀確定單晶的晶格取向，使用Omega掃描方法的超高速晶體定位，測量立方晶體任意未知取向的測定，特別設計用于點陣方向的方位設置和標記。氣...
德國弗萊貝格--MDpicts 微波探測光誘導電流瞬態(tài)譜儀微波探測的光感應電流瞬態(tài)圖譜檢測，非接觸且無損傷，用于溫度依賴的少數載流子壽命測量以及半導體的界面陷阱...
PHI X射線光電子能譜儀PHI Genesis 500是新一代配置了全自動多功能掃描聚焦X 射線光電子能譜，易操作式多功能選配附件，能夠實現全自動樣品傳送停放...
飛行時間二次離子質譜儀PHI nano TOF3+，先進的多功能TOF-SIMS具有更強大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度詳細介紹PHI nanoTOF3+ ...
俄歇電子能譜儀PHI公司的PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺設計的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設備能分析納米級特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結構表界面的元...
PHI 硬X射線光電子能譜儀主要應用于電池、半導體、光伏、新能源、有機器件、納米顆粒、催化劑、金屬材料、聚合物、陶瓷等固體材料及器件領域。用于全固態(tài)電池、半導體...
布魯克X射線單晶衍射儀布魯克X射線單晶衍射儀D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的新款，功能強大的X射線單晶衍射儀。一體化的設計， 配備優(yōu)良的光源以...
布魯克X射線衍射儀D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀采用達芬奇設計，通過TWIN-TWIN光路設計，成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄...
布魯克X射線桌面型衍射儀D6 PHASERX射線桌面型衍射儀是德國布魯克AXS公司新推出用于X射線粉末衍射反射與透射幾何、掠入射衍射與反射法薄膜分析以及塊體樣品...
布魯克X射線衍射儀布魯克X射線衍射儀D8 DISCOVER 采用達芬奇設計，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動識別、即插即用以及*集成化...
布魯克三維X射線顯微鏡 納米級micro CTSKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統，在為用戶帶來了終級分辨率的同時,提供非常好的用戶體驗。...
布魯克波長色散型X射線熒光光譜儀2017年，布魯克波長色散型X射線熒光光譜儀第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技術，保證從鈹（4Be）到...
布魯克X射線多道熒光儀布魯克X射線多道熒光儀(S8 LION)布魯克AXS公司全新設計的多道波長色散X射線熒光光譜儀，采用了當前新技術設計的固態(tài)發(fā)生器、新技術設...
布魯克X射線單晶衍射儀D8 VENTURE/QUEST布魯克X射線單晶衍射儀一體化的設計， 配備目前世界上先進的光源以及PHOTON III MMPAD探測器，...
布魯克三維X射線顯微鏡 micro CTSKYSCAN 1273━布魯克三維X射線顯微成像系統 micro CT，高能量X射線源與高靈敏度和輸出速度的大尺寸平板...
布魯克三維X射線顯微鏡 micro CT布魯克三維X射線顯微鏡 micro CT SKYSCAN 1275 專為快速掃描多種樣品而設計。僅需按下啟動按鈕即可啟動...
X16 X-ray Inspection System安全、準確且全面的檢測.X16系統是大中型包裝食品和醫(yī)藥制品的優(yōu)質解決方案。此創(chuàng)新型X射線檢測系統可改善產...
檢測器 X34C Series System設計緊湊、速度快、精度高.它是一款的解決方案，可在較高的生產線速度下檢查獨立包裝的食品或藥品。X34C兼具占用空間小...
X52 X-ray Inspection System精確、完整的檢測.一款優(yōu)質的雙能X射線檢測系統，具有出色的性能，能夠檢測出各種應用中不易發(fā)現的低密度污染物...
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