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當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>X射線儀器>> MDpicts 微波探測(cè)光誘導(dǎo)電流瞬態(tài)譜儀
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Freiberg Instruments
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-10-28 11:53:10瀏覽次數(shù):81次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)HORIBA 全自動(dòng)熒光光譜儀FluoroMax-4
微波探測(cè)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè),非接觸且無(wú)損傷,用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級(jí)的電性能表征。
產(chǎn)品介紹:
微波探測(cè)的光感應(yīng)電流瞬態(tài)圖譜檢測(cè),非接觸且無(wú)損傷,用于溫度依賴的少數(shù)載流子壽命測(cè)量以及半導(dǎo)體的界面陷阱和體陷阱能級(jí)的電性能表征。MDpicts將在半導(dǎo)體材料的基礎(chǔ)研究與開(kāi)發(fā)領(lǐng)域取得普遍的應(yīng)用。
設(shè)備特點(diǎn):
靈敏度:對(duì)半導(dǎo)體材料電學(xué)缺陷有很高的靈敏度
溫度范圍:液氮(77k)至500k。可選:液氦(4k)或更高溫度
衰減常數(shù)范圍:20納秒到幾毫秒
沾污檢測(cè):電學(xué)陷阱基本性能確定:激發(fā)性能和陷阱的俘獲截面,受溫度和注入水平影響的少子壽命參數(shù)等
重復(fù)性:> 99.5%,測(cè)量時(shí)間:< 60分鐘。液氮消耗:2升/次
靈活性:從365 nm 到1480nm,根據(jù)不同材料選擇不同波長(zhǎng)激發(fā)光源
可訪問(wèn)性:基于IP的系統(tǒng)允許來(lái)自世界任何地方的遠(yuǎn)程操作和技術(shù)支持
圖1.與溫度有關(guān)的載流子發(fā)射瞬態(tài)
圖2.不同缺陷的評(píng)價(jià)
從Arrhenius斜率(圖3)可以確定活化能
圖3.阿倫尼烏斯曲線圖
利用這種新型MDPpicts設(shè)備,可在20~500k范圍內(nèi)測(cè)量溫度依賴性的瞬態(tài)光電導(dǎo)。
Si, GaAs, InP, SiC和其他很多半導(dǎo)體材料已成功采用了這種方法進(jìn)行研究。
圖4.不同溫度的Cz-Si晶圓片的MD-PICTS圖譜
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