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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)D8 ADVANCE
品 牌Bruker/布魯克
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-10-27 13:23:04瀏覽次數(shù):97次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)HORIBA 全自動(dòng)熒光光譜儀FluoroMax-4
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 通用 |
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儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀采用達(dá)芬奇設(shè)計(jì),通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì),成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換,而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點(diǎn)光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題成為歷史。
詳情介紹
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰(注意不是一個(gè)衍射峰)的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度,布魯克AXS公司提供全球保證!
優(yōu)良的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀技術(shù)指標(biāo):
●Theta/theta 立式測(cè)角儀
●2Theta角度范圍:-110~168°
●角度精度:0.0001度
●Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管
●探測(cè)器:林克斯陣列探測(cè)器、林克斯XE陣列探測(cè)器
●儀器尺寸:1868x1300x1135mm
●重量:770kg
D8 ADVANCE布魯克X射線衍射儀主要功能
●TWIN / TWIN 光路
布魯克TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)極大地簡(jiǎn)化了D8 ADVANCE的操作,使之適用于多種應(yīng)用和樣品類型。為便于用戶使用,該系統(tǒng)可在4種不同的光束幾何之間進(jìn)行自動(dòng)切換。該系統(tǒng)無(wú)需人工干預(yù),即可在Bragg-Brentano粉末衍射幾何和不良形狀的樣品、涂層和薄膜的平行光束幾何以及它們之間進(jìn)行切換,且無(wú)需人工干預(yù),是在環(huán)境下和非環(huán)境下對(duì)包括粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。
●動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化(DBO)
布魯克DBO功能為X射線衍射的數(shù)據(jù)質(zhì)量樹(shù)立了全新的重要基準(zhǔn)。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫、防散射屏和可變探測(cè)器窗口的自動(dòng)同步功能,可為您提供高質(zhì)量的數(shù)據(jù)——尤其是在低2Θ角度時(shí)。除此之外,LYNXEYE全系列探測(cè)器均支持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。
●LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探測(cè)器的旗艦產(chǎn)品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D數(shù)據(jù)的能量色散探測(cè)器,適用于所有波長(zhǎng)(從Cr到Ag),具有高計(jì)數(shù)率和好的角分辨率,是所有X射線衍射和散射應(yīng)用的理想選擇。
LYNXEYE XE-T具有優(yōu)于380 eV的能量分辨率,著實(shí)出色,是市面上性能好的的熒光過(guò)濾器探測(cè)器系統(tǒng)。借助它,您可在零強(qiáng)度損失下對(duì)由銅輻射激發(fā)的鐵熒光進(jìn)行100%過(guò)濾,而且無(wú)需金屬濾波片,因此數(shù)據(jù)也不會(huì)存在偽影,如殘余K?和吸收邊。同樣,也無(wú)需用到會(huì)消除強(qiáng)度的二級(jí)單色器。
布魯克提供LYNXEYE XE-T探測(cè)器保證:交貨時(shí)保證無(wú)壞道!
應(yīng)用:
●物相定性分析
●結(jié)晶度及非晶相含量分析
●結(jié)構(gòu)精修及解析
●物相定量分析
●點(diǎn)陣參數(shù)精確測(cè)量
●無(wú)標(biāo)樣定量分析
●微觀應(yīng)變分析
●晶粒尺寸分析
●原位分析
●殘余應(yīng)力
●低角度介孔材料測(cè)量
●織構(gòu)及ODF分析
●薄膜掠入射
●薄膜反射率測(cè)量
●小角散射
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