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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Freiberg Instruments
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2024-10-28 16:50:39瀏覽次數(shù):66次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 化工儀器網(wǎng)HORIBA 全自動(dòng)熒光光譜儀FluoroMax-4
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 雙晶衍射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
確定單晶的晶格取向,使用Omega掃描方法的超高速晶體定位,測(cè)量立方晶體任意未知取向的測(cè)定,特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記。氣冷式x射線管,無需水冷,
適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制。 X射線單晶定向儀
產(chǎn)品介紹:
技術(shù)特點(diǎn)
確定單晶的晶格取向
使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量
立方晶體任意未知取向的測(cè)定
特別設(shè)計(jì)用于點(diǎn)陣方向的方位設(shè)置和標(biāo)記
氣冷式x射線管,無需水冷
適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制
X射線單晶定向儀
所有想要的晶體方向參數(shù)在5秒內(nèi)一次旋轉(zhuǎn)中被捕獲
可測(cè)量材料的例子
? 立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP
? 立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
? 正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4
? 六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(藍(lán)寶石),GaPO4, La3Ga5SiO14
? 斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3
? 可根據(jù)客戶的要求進(jìn)一步選料
X射線單晶定向儀
DDCOM的應(yīng)用
平面方向的標(biāo)記和測(cè)量
在晶圓片的注入和光刻過程中,需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過程中,晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
為了確定平面或缺口的位置,就需要測(cè)量平面內(nèi)的部件。由于Omega掃描法可以在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位,基于此,便可以直接識(shí)別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。
DDCOM通過旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤,可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶的特定位置。在必須定義平面方向的情況下,這可以極大簡(jiǎn)化將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的過程。
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