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九域半導(dǎo)體科技(蘇州)有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第1年

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  • 渦流法電阻率測(cè)試儀

    渦流法電阻率測(cè)試儀的樣品尺寸:2“-8“或者16mm×16mm的方形樣品;遷移率測(cè)量范圍:100-20000(cm2/v.sec);方塊電阻測(cè)量范圍:...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/23 10:59:08 對(duì)比
    晶圓方阻硅片電阻率遷移率測(cè)試儀渦流法電阻率測(cè)試儀少子壽命測(cè)試儀
  • 外延片電阻率方阻測(cè)試儀

    外延是半導(dǎo)體工藝當(dāng)中的一種。在bipolar工藝中,硅片最底層是P型襯底硅(有的加點(diǎn)埋層);然后在襯底上生長(zhǎng)一層單晶硅,這層單晶硅稱為外延層;再后來(lái)在外延層上注...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:32:18 對(duì)比
    外延片電阻率外延電阻率方阻渦流法半導(dǎo)體
  • 氧化鎵電阻率方阻測(cè)試儀

    氧化鎵是一種無(wú)機(jī)化合物,化學(xué)式為Ga2O3。別名三氧化二鎵,是一種寬禁帶半導(dǎo)體,Eg=4.9eV,其導(dǎo)電性能和發(fā)光特性長(zhǎng)期以來(lái)一直引起人們的注意。Ga2O3是一...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:23:12 對(duì)比
    氧化鎵電阻率渦流法晶圓缺陷方阻
  • 碳化硅電阻率方阻測(cè)試儀

    1、電阻率ρ不僅和導(dǎo)體的材料有關(guān),還和導(dǎo)體的溫度有關(guān)。在溫度變化不大的范圍內(nèi):幾乎所有金屬的電阻率隨溫度作線性變化,即ρ=ρ0(1+at)。式中t是攝氏溫度,ρ...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:20:00 對(duì)比
    碳化硅電阻率渦流法方阻四探針
  • 晶圓電阻率測(cè)試儀

    電阻率(resistivity)是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式R=ρl/S,其中ρ就是電阻率,l為材料的長(zhǎng)度,S為面積。可以看出...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:17:49 對(duì)比
    晶圓電阻率晶圓缺陷渦流法方阻
  • 硅片電阻率測(cè)試儀

    電阻率(resistivity)是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。在溫度一定的情況下,有公式R=ρl/S,其中ρ就是電阻率,l為材料的長(zhǎng)度,S為面積??梢钥闯?..

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:16:12 對(duì)比
    硅片電阻率渦流法方阻半導(dǎo)體
  • 無(wú)損電阻率測(cè)試儀

    非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)。該裝置包含一個(gè)渦流傳感器組,感應(yīng)弱電流到導(dǎo)電薄膜和材料。非接觸式薄膜方塊電阻測(cè)量?jī)x試樣中的感應(yīng)電流產(chǎn)生與測(cè)量對(duì)象的片電阻相關(guān)的電磁...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:14:41 對(duì)比
    電阻率晶圓缺陷無(wú)損方阻渦流法
  • 晶錠渦流法電阻率測(cè)試儀

    電阻率是用來(lái)表示各種物質(zhì)電阻特性的物理量。某種物質(zhì)所制成的原件(常溫下20°C)的電阻與橫截面積的乘積與長(zhǎng)度的比值叫做這種物質(zhì)的電阻率。電阻率與導(dǎo)體的...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 16:05:04 對(duì)比
    晶錠渦流法電阻率非接觸無(wú)損方阻
  • 非接觸電阻率測(cè)試儀

    設(shè)備主要利用渦電流測(cè)試原理,非接觸測(cè)試半導(dǎo)體材料,石墨烯,透明導(dǎo)電膜,碳納米管,金屬等材料的方阻(電阻率)。可實(shí)現(xiàn)單點(diǎn)測(cè)試,亦可以實(shí)現(xiàn)面掃描的測(cè)試功能,可用于材...

    型號(hào): 所在地:蘇州市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/11/18 15:46:41 對(duì)比
    渦流法電阻率非接觸電阻率渦流法方阻非接觸方阻無(wú)損電阻率無(wú)損方阻

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