手持式薄膜測(cè)厚儀,薄膜厚度測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款手持式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過(guò)率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n...
顯微薄膜測(cè)量?jī)x,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
這款顯微薄膜測(cè)量?jī)x是一款多功能薄膜測(cè)厚儀和顯微分光光度計(jì)，可以結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率以及測(cè)量薄膜熒光。這款顯微薄膜測(cè)試儀通過(guò)測(cè)...
便攜式薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款便攜式薄膜測(cè)厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)x,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測(cè)量,薄膜吸收率測(cè)量,薄膜透過(guò)率測(cè)量,薄膜反射率測(cè)量,薄膜熒光測(cè)量等，這...
光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
這款光學(xué)薄膜測(cè)厚儀采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量薄膜反射光譜進(jìn)測(cè)量薄膜厚度和測(cè)量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測(cè)量。
進(jìn)口大型晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
大型晶圓探針臺(tái)600LS是專業(yè)為300mm晶圓測(cè)試設(shè)計(jì)的大尺寸晶圓測(cè)試探針臺(tái)系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測(cè)試應(yīng)用。
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)低溫探針臺(tái)采用MicroXact低溫磁探針臺(tái)技術(shù),滿足電磁鐵、超導(dǎo)磁體或電磁鐵和超導(dǎo)磁體的組合測(cè)試應(yīng)用。
進(jìn)口無(wú)氦低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
無(wú)氦低溫探針臺(tái)CPS-CF是為極低溫探針測(cè)試設(shè)計(jì)的閉循環(huán)低溫探針臺(tái)系統(tǒng),適合低溫下對(duì)器件和電路進(jìn)行探針測(cè)試。
半自動(dòng)真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)真空探針臺(tái)SPS-2600-VAC和SPS-2800-VAC系列是MicroXact的真空探針系統(tǒng)，設(shè)計(jì)用于支持在真空或受控氣體環(huán)境中對(duì)多達(dá)100mm...
磁探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款磁探針臺(tái)可提供三維磁場(chǎng)控制,滿足磁性控制RF探針測(cè)試應(yīng)用.作為磁場(chǎng)探針臺(tái)實(shí)現(xiàn)了平面磁場(chǎng)的任意操控,方便自旋電子器件探針測(cè)試.
進(jìn)口高溫探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款高溫探針臺(tái)是為高溫環(huán)境器件測(cè)試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺(tái)分析測(cè)試而設(shè)計(jì)。
閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款閉循環(huán)低溫真空探針臺(tái)是半自動(dòng)低溫真空探針臺(tái),可在低溫單CCR系統(tǒng)9K，雙CCR系統(tǒng)4.5K和三CCR系統(tǒng)低于4K溫度下測(cè)試經(jīng)驗(yàn)和器件。
激光切割修復(fù)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
激光切割分析探針臺(tái)集成分析探針臺(tái)和半導(dǎo)體激光修調(diào)trimming系統(tǒng),適合半導(dǎo)體分析切割,失效分析,半導(dǎo)體修調(diào)trimming,結(jié)構(gòu)層移除,標(biāo)記等諸多應(yīng)用。
進(jìn)口半自動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)探針臺(tái)廣泛用作電動(dòng)分析探針臺(tái)和半自動(dòng)晶圓探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,采用重型多功能探針臺(tái)平臺(tái)制造,配置靈活多樣,具有加熱制冷晶圓夾盤chuck,體式...
進(jìn)口半自動(dòng)晶圓探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款半自動(dòng)晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試100mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口晶圓測(cè)試探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型晶圓探針臺(tái)廣泛用作分析探針臺(tái)和RF探針臺(tái),可測(cè)試200mm晶圓,性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件...
進(jìn)口分析探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)型分析探針臺(tái)廣泛用作晶圓探針臺(tái)和RF探針臺(tái),性價(jià)比高,配置靈活多樣,具有加熱型晶圓夾盤chuck,體式顯微鏡,RF屏蔽箱等諸多配件可選擇,適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)...
進(jìn)口手動(dòng)探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款手動(dòng)探針臺(tái)適合150mm尺寸晶圓測(cè)試,是經(jīng)濟(jì)型探針臺(tái)但是具有昂貴探針臺(tái)的良好參數(shù)性能，結(jié)構(gòu)緊湊而方便使用,非常適合實(shí)驗(yàn)室半導(dǎo)體器件測(cè)試和電路測(cè)試應(yīng)用。
微探針臺(tái)系統(tǒng),micro probe 參考價(jià)：面議
微探針臺(tái)系統(tǒng)micro probe system可植入顯微鏡中,把顯微鏡改造成探針臺(tái)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)微操作和微測(cè)量功能。
雙面探針臺(tái),PCBA雙面tan測(cè) 參考價(jià)：面議
雙面探針臺(tái)GTL5050解決電路板PCBA雙面探測(cè)的困難-輔光儀器雙面探針臺(tái)GTL5050解決電路板PCBA雙面探測(cè)的困難-輔光儀器雙面探針臺(tái)雙面探針臺(tái)GTL5...
大面積探針臺(tái),PCBA探針分析測(cè)試 參考價(jià)：面議
大面積探針臺(tái)GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測(cè)試設(shè)計(jì)的大面積探針平臺(tái),具有更大的測(cè)試平臺(tái)，以容納中大型測(cè)試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺(tái),探針測(cè)試分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這款非接觸式探針臺(tái)是為高頻電子設(shè)備、IC和材料測(cè)試/表征設(shè)計(jì)的非接觸式探針測(cè)試分析系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了整個(gè)毫米波和太赫茲波段電子設(shè)備和IC的自動(dòng)S參數(shù)表征。測(cè)量范圍為5...
進(jìn)口高溫探針臺(tái),高功率探針tai 參考價(jià)：面議
采用signatone探針臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)300mm尺寸晶圓探針臺(tái)測(cè)試,屬于半自動(dòng)RF/DC/CV測(cè)試高功率探針臺(tái)。
探針臺(tái)操縱器,探針操縱qi 參考價(jià)：面議
探針操縱器Micromanipulator是為探針臺(tái)微操作探針設(shè)計(jì)的探針臺(tái)操縱器,用于各種探針操作定位。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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