目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>光學(xué)測量系列>>探針臺>> FPMIC-CPS-HT進口高溫探針臺
這款高溫探針臺是為高溫環(huán)境器件測試或真空環(huán)境或氣體環(huán)境器件探針臺分析測試而設(shè)計。手動高溫探針臺可測試50mm x 50mm的晶圓樣品，電控或半自動高溫探針臺可測試100mm或更大尺寸晶圓樣品。
高溫探針臺在真空環(huán)境下可測量溫度環(huán)境高達700攝氏度,在非真空環(huán)境下可測650攝氏度。
高溫探針臺特點
具有手動，半自動或電控探針臺配置方案
探針臂可配備額外手動微操作器，方便微納操作
可配備空氣或液氮制冷的熱晶圓夾盤
標(biāo)配7:1X放大透鏡管，分辨率可達4微米
可選配12.5:1或16:1X放大透鏡管
有效振動隔離
快速制冷和加熱選項
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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