硅錠壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
硅錠壽命測(cè)量?jī)x是精確的非接觸式測(cè)量本體壽命的儀器,適合任意生長(zhǎng)硅錠表面任意曲率半徑硅錠測(cè)量壽命。也適合單晶硅硅錠和多晶硅硅錠壽命測(cè)量
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
單晶多晶硅片壽命測(cè)試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗(yàn),測(cè)量少子壽命,測(cè)量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測(cè)試儀器
晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款晶圓少子壽命測(cè)量?jī)x是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的少子壽命測(cè)試儀器。
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
單點(diǎn)少子壽命測(cè)量?jī)x系統(tǒng)是經(jīng)濟(jì)型晶圓壽命測(cè)量?jī)x器,對(duì)不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進(jìn)行表征。
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀 參考價(jià)：面議
微波探測(cè)光致電流瞬態(tài)譜儀采用微波技術(shù)探測(cè)材料的光生電流瞬態(tài)光譜值,非常適合溫度依賴的少子壽命測(cè)量和半導(dǎo)體界面陷阱。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀 參考價(jià)：面議
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無(wú)損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款溫度型少子壽命測(cè)試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測(cè)量設(shè)計(jì)的溫度決定型少子壽命測(cè)定儀器。
進(jìn)口光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
薄膜測(cè)厚儀TohoSpec 3100是高精度薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng),采用小光斑光譜反射計(jì)獲得薄膜厚度信息,可靠的固態(tài)線性二極管陣列可快速、精確地測(cè)量單層薄膜，如氧化物...
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)鍍膜檢測(cè)儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測(cè)設(shè)計(jì)的鍍膜掃描分光光度計(jì),滿足光學(xué)樣品的無(wú)人值守薄膜測(cè)量。測(cè)量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測(cè)厚儀,進(jìn)口膜厚儀 參考價(jià)：面議
聚合物薄膜測(cè)厚儀用于測(cè)量polymer films(聚合物薄膜、有機(jī)薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
鏡片透光率測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
鏡片透光率測(cè)試儀是一款眼鏡鏡片透光率測(cè)量?jī)x器,廣泛用于薄膜透光率測(cè)試,比如LED擴(kuò)散板透光率測(cè)試,鏡頭透光率測(cè)試,玻璃透過(guò)率測(cè)試,隔熱紙材料透過(guò)率測(cè)試。
進(jìn)口光學(xué)膜厚儀 參考價(jià)：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺(tái)式光學(xué)薄膜測(cè)厚儀,可測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜吸收率,測(cè)量薄膜透過(guò)率,測(cè)量薄膜反射率,測(cè)量薄膜熒光,也可測(cè)量膜層厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
顯微分光光度計(jì)薄膜測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
顯微分光光度計(jì)是多功能顯微薄膜測(cè)厚測(cè)量?jī)x,結(jié)合顯微鏡測(cè)量薄膜吸收率,透過(guò)率,反射率以及薄膜熒光，通過(guò)測(cè)量薄膜反射率快速測(cè)量薄膜厚度,測(cè)量薄膜光學(xué)常量(n &k)...
光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
高精度光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)量?jī)x是六軸電動(dòng)MTF測(cè)試儀器,軟件控制MTF測(cè)試分析,滿足有限/有限對(duì)象/圖像共軛光學(xué)測(cè)量應(yīng)用。
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀 參考價(jià)：面議
顯微光學(xué)傳遞函數(shù)分析儀MTF Micro是為極短焦距的微光學(xué)元件設(shè)計(jì)的光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試儀器,它在5個(gè)像場(chǎng)點(diǎn)和焦點(diǎn)測(cè)量MTF切向和矢狀。
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
光學(xué)鏡頭測(cè)量?jī)x是為光學(xué)鏡頭和光學(xué)模組分析測(cè)試設(shè)計(jì)的光學(xué)鏡頭分析測(cè)試儀器,滿足鏡頭經(jīng)典光學(xué)參數(shù)的測(cè)量系統(tǒng),如EFL（焦距）（正/負(fù)）、BFL、FFL、半徑（凹/凸...
紅外自準(zhǔn)直儀 參考價(jià)：面議
紅外自準(zhǔn)直儀是專門為1550nm波長(zhǎng)設(shè)計(jì)的電子紅外自動(dòng)準(zhǔn)直儀器,具有電子圖像評(píng)估功能和1弧秒的精度。
法拉第屏蔽箱 參考價(jià)：面議
法拉第屏蔽箱采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效法拉第箱和電磁屏蔽箱，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用,比如...
進(jìn)口法拉第罩殼 參考價(jià)：面議
法拉第罩殼采用法拉第籠,Faraday Cage原理,是降低電磁干擾的有效設(shè)備，非常適合電磁敏感或電磁干擾嚴(yán)重的儀器實(shí)驗(yàn)屏蔽電磁干擾使用。
磁場(chǎng)屏蔽消磁儀 參考價(jià)：面議
這款磁場(chǎng)屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場(chǎng)消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場(chǎng)傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場(chǎng)消除系統(tǒng),磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
磁場(chǎng)消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計(jì)的消磁儀器和磁場(chǎng)補(bǔ)償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場(chǎng)噪聲問(wèn)題,為電子顯微鏡,電子和離子束實(shí)驗(yàn),磁共振成像MRI,...
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價(jià)：面議
主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場(chǎng)干擾而設(shè)計(jì)的主動(dòng)磁場(chǎng)屏蔽和主動(dòng)消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場(chǎng)干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度均勻性測(cè)量?jī)x采用光譜反射計(jì)技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
薄膜厚度繪圖儀mapping 參考價(jià)：面議
這款薄膜厚度繪圖儀采用光譜反射儀技術(shù)測(cè)量整個(gè)樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，對(duì)整個(gè)面積上的薄膜厚度繪圖獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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