應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,印刷包裝 | 型號(hào) | CSG-17-100-2UH |
---|---|---|---|
產(chǎn)地 | 日本 | 品牌 | 哈默納科 |
名稱(chēng) | 哈默納科行星減速機(jī) | 用途 | 機(jī)床半導(dǎo)體 |
減速比 | 100 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
哈默納科行星減速機(jī)CSG-17-100-2UH
曝光后的硅片從曝光系統(tǒng)又回到硅片軌道系統(tǒng),需要進(jìn)行短時(shí)間的曝光后烘培。其目的是促進(jìn)光刻膠的化學(xué)反應(yīng),或者提高光刻膠的粘附性并減少駐波。在光刻膠的產(chǎn)品說(shuō)明書(shū)中,生產(chǎn)商會(huì)提供后烘的時(shí)間和溫度。進(jìn)行后烘時(shí),硅片放在自動(dòng)軌道系統(tǒng)的一個(gè)熱板上,處理的溫度和時(shí)間需要根據(jù)光刻膠的類(lèi)型確定。典型后烘的溫度90~130℃,時(shí)間1~2分鐘。
用化學(xué)顯影液溶解由曝光造成的光刻膠可溶解區(qū)域就是光刻膠顯影,目的是把掩模版圖形準(zhǔn)確復(fù)制到光刻膠中。顯影的要求重點(diǎn)是產(chǎn)生的關(guān)鍵尺寸達(dá)到規(guī)格要求。
曝光過(guò)程包括:聚焦、對(duì)準(zhǔn)、曝光、步進(jìn)和重復(fù)以上過(guò)程。
光學(xué)曝光技術(shù)經(jīng)歷了不同的發(fā)展階段。按照掩模版與硅片的位置關(guān)系區(qū)分,從最初的接觸式曝光,發(fā)展到接近式曝光,直到現(xiàn)在的投影式曝光。曝光光源主要使用紫外光、深紫外光、極紫外光,現(xiàn)今的是:汞燈和準(zhǔn)分子聚光光源。
哈默納科行星減速機(jī)CSG-17-100-2UH光刻設(shè)備的發(fā)展和使用經(jīng)歷了五個(gè)不同階段,分別是:接觸式光刻機(jī)、接近式光刻機(jī)、掃描投影光刻機(jī)、分步重復(fù)光刻機(jī)、步進(jìn)掃描光刻機(jī)。
曝光與對(duì)準(zhǔn)過(guò)程主要由光刻機(jī)完成。光刻機(jī)造價(jià)高昂,是非常復(fù)雜的系統(tǒng),涉及的技術(shù)也非常多。光刻機(jī)是芯片生產(chǎn)的關(guān)鍵設(shè)備,也是電子制造的核心技術(shù)設(shè)備
以光學(xué)紫外曝光為例,首先將硅片定位在光學(xué)系統(tǒng)的聚焦范圍內(nèi),硅片的對(duì)準(zhǔn)標(biāo)記與掩模版上相匹配的標(biāo)記對(duì)準(zhǔn)后,紫外光通過(guò)光學(xué)系統(tǒng)和掩模版圖形進(jìn)行投影。掩模版圖形若以亮暗的特征出現(xiàn)在硅片上,這樣光刻膠就曝光了。
8所示為紫外曝光系統(tǒng)曝光過(guò)程示意圖。該曝光系統(tǒng)包括一個(gè)紫外光源、一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)、一塊由芯片圖形組成的投影掩模版、一個(gè)對(duì)準(zhǔn)系統(tǒng)和涂過(guò)光刻膠的硅片。硅片放在可以實(shí)現(xiàn)X、Y、Z、?方向運(yùn)動(dòng)的承片臺(tái)上,由對(duì)準(zhǔn)激光系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)承片臺(tái)上的硅片與掩模版之間的對(duì)準(zhǔn),由光源系統(tǒng)、投影掩模版、投影透鏡實(shí)現(xiàn)硅片上光刻膠的曝光。