納米壓痕測(cè)試儀(Nanoindentor)儀器簡介：

公司在原有NHT納米壓痕測(cè)試儀的基礎(chǔ)上，推出了NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測(cè)試儀 (0.1-500mN) 。

NHT2納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性?？蛇m用于有機(jī)或無機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等?；w可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。

top reference（表面參比測(cè)試技術(shù)）設(shè)計(jì)，NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。

NHT2納米壓痕測(cè)試儀同時(shí)具備了納米測(cè)試系統(tǒng)所具有的豐富的測(cè)量模式，如恒應(yīng)變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過納米力學(xué)平臺(tái)的設(shè)計(jì)，客戶可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)。如AFM原子力顯微鏡同步成像、微米壓痕模塊、微米或納米劃痕模塊、微納米摩擦磨損模塊、變溫、濕度控制、真空環(huán)境等等。

納米壓痕測(cè)試儀(Nanoindentor)技術(shù)參數(shù)：

載荷范圍：0-500mN

載荷分辨率：40nN

大壓入深度：200um

位移分辨率：0.004nm

NHT2納米壓痕測(cè)試儀的主要特點(diǎn)：

參比環(huán)設(shè)計(jì)-實(shí)時(shí)消除大部分熱漂移

帶有反饋系統(tǒng)的載荷加載系統(tǒng)

試樣夾具可夾持各種尺寸試樣（無需用膠粘結(jié)試樣）

金相顯微鏡觀測(cè)系統(tǒng)

計(jì)算機(jī)軟件包，自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)獲取、儲(chǔ)存、分析等

豐富、靈活的擴(kuò)展空間

選件：

其它力學(xué)測(cè)試模塊（如微納米劃痕、超納米壓痕等）

真空及環(huán)境(溫度、濕度）控制

原子力顯微鏡成像系統(tǒng)

環(huán)境隔離罩

多功能納米壓痕儀選型：

4D緊湊型

多功能納米壓痕儀4D緊湊型是球結(jié)構(gòu)為緊湊小巧的納米硬度測(cè)試儀，它采用納米壓痕法測(cè)量材料硬度和彈性模量（楊氏模量），負(fù)載高達(dá)2N，廣泛用于材料力學(xué)性能測(cè)量研究。也非常適合大學(xué)或研究單位的納米壓痕儀測(cè)量硬度的教學(xué)或演示教學(xué)。

4D標(biāo)準(zhǔn)型

多功能納米壓痕儀4D標(biāo)準(zhǔn)型具有測(cè)量材料硬度，彈性模量和其它力學(xué)性能的功能。它采用靜態(tài)和動(dòng)態(tài)納米壓痕技術(shù)以及sclerometry方法測(cè)量材料性能。并且可以接觸式或半接觸式地測(cè)量材料表面形貌，采用光學(xué)顯微鏡高精度地對(duì)壓頭和樣品進(jìn)行互動(dòng)性定位。

多功能納米壓痕儀4D標(biāo)準(zhǔn)型還可以接入另外的傳感器或測(cè)量模塊，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面進(jìn)行其它測(cè)量。

4D+增強(qiáng)型

多功能納米壓痕儀4D+增強(qiáng)型配置是球功能多的多功能納米硬度測(cè)量儀器。它具有納米壓痕儀和原子力顯微鏡的功能，具備了所有的物理和力學(xué)性能測(cè)量能力。它具有原子力顯微鏡測(cè)量模塊，能夠以納米級(jí)分辨率研究壓痕后留下的表面痕跡和圖像，并能夠全自動(dòng)測(cè)量，可以批量處理分析測(cè)量結(jié)果。

3D緊湊型

緊湊型3D納米壓痕儀用于研究微小樣品的表面形貌輪廓和力學(xué)特性，它采用掃描探針顯微鏡SPM技術(shù)和納米壓痕方法，提供高達(dá)50mN的負(fù)載，非常適合物理學(xué)，材料學(xué)和力學(xué)專業(yè)用于亞微米和納米尺度的教學(xué)研究。

3D標(biāo)準(zhǔn)型

用于負(fù)載物理和力學(xué)性質(zhì)的研究，負(fù)載為100mN，裝備有光學(xué)顯微鏡和電動(dòng)樣品臺(tái)用于樣品定位，高效率自動(dòng)化加載提高了測(cè)量效率。

3Di型

裝配有掃描探針顯微鏡SPM和激光干涉儀。