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Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon

Bruker公司的AFM具有多項zhuan  li技術，以其的性能廣泛應用于科研和工業(yè)界各領域

Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項行業(yè)*的zhuan  li技術，是二十多年技術創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應用的結晶。

應用：

應用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結構，光盤存儲，薄膜性能表征等領域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

1. 低漂移和低噪音水平

2. 配置有專有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術，可以簡易快速穩(wěn)定成像

3. 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm

4. 溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)出*的高分辨率。

5. 全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質(zhì)量的前提下大大提高了掃描速度。

6. 探針和樣品臺的開放式設計使Icon 可勝任各種標準和非標準的實驗。

7. 先進的布魯克AFM的模式和技術，如高次諧波共振模式，和的不失真高溫成像技術--采用對針尖和樣品同時加熱的方法，zui da減少針尖和樣品之間的溫差，避免造成成像失真。

部分選擇項：