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Bruker原子力顯微鏡-- Dimension FastScan

Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)zhuan li技術(shù)，以其卓yue的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域

Dimension  FastScanTM 原子力顯微鏡（Atomic  Force Microscope，AFM），在不損失Dimension®  Icon®超高的分辨率和卓yue的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項(xiàng)突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)的時間,是世界上掃描速度zui快的原子力顯微鏡。

應(yīng)用：

應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測等各類科研和生產(chǎn)工作。

原理：

原子力顯微鏡的工作模式是以針jian與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。

特征：

u 高xiao率  

l 在空氣或液體中成像速度是原來速度的 100 倍，自動激光調(diào)節(jié)和檢測器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時間。

l 自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)完mei結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

u 高分辨率  

l FastScan 精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。掃描速度 20Hz 時仍能獲得高質(zhì)量的 TappingModeTM圖像，掃描速度 6Hz 仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst 圖像。

l 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。

u 在任何樣品上均有卓yue表現(xiàn)

l 閉環(huán)控制的 Icon和 FastScan掃描管極大地降低了 Z方向噪音，使它們 Z 方向的噪音水平分別低于 30pm 和 40  pm，具有極低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。

l Fast Scan 可以對不同樣品進(jìn)行測量，保證高度從埃級到 100 多納米的樣品高精度無失真掃描