性猛交XXXX乱大交派对,四虎影视WWW在线观看免费 ,137最大但人文艺术摄影,联系附近成熟妇女

布魯克Bruker 原子力顯微鏡探針 AFM探針 輕敲模式  OLTESPA-R3

 產品特點
更易定位，更適合如按樣品。

 OLTESPA-R3原子力顯微鏡探針為布魯克貼標產品，同型號奧林巴斯OMCL-AC240TS-R3 探針。

懸臂共振頻率：70(50~90) kHz（空氣中），彈性系數：2 N/m。

針尖曲率半徑：7nm（典型值）

AL涂層。

產品資料 

 OLTESPA-R3 原子力顯微鏡探針/AFM探針主要特點：
1.較小彈簧常數更適合測量軟樣品

2 N / m的彈簧常數是AC模式的硅懸臂中*小的，適用于觀察軟樣品的表面形貌和粘彈性。

2.用低電阻率硅測量表面電位

懸臂基材采用N型摻雜硅，表面電阻為0.01-0.02Ω·cm（是其他基材表面電阻的1/200）。這可以用于測量表面電位和其他應用。

3.理想情況下指向終止探針

四面體探針的頂點理想地是點終止的。

從正面看，四面體探針顯示出良好的對稱性?？紤]幾何特征，選擇快速掃描（X）方向。檢查掃描線輪廓和頂點的放大視圖。

4.備受好評的'TipView'結構

由于'TipView'結構，探頭可以輕松定位在您感興趣的位置。

探頭位于懸臂的末端，以便在光學觀察期間探頭頂點不會被遮擋。

5.反射側鋁涂層

在懸臂上涂覆厚度為100nm的薄鋁膜，用于反射來自AFM設備中的偏轉傳感器的光?？梢灶A期用于高S / N感測的高反射。

參數規(guī)格

產品優(yōu)勢

關于布魯克：

布魯克公司以的生產工藝，專業(yè)的AFM領域背景，得天獨厚的生產裝備，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在*廣泛的應用領域中提供*完整的AFM解決方案。

布魯克AFM探針制造中心*優(yōu)勢：

*Class100級別的無塵室

*的設計、制造工序及制造工具

*探針設計團隊與AFM設備研發(fā)團隊通力合作，配合緊密

*訓練有素的生產團隊，制造出各種型號的探針

*全面的質量管理體系，確保探針性能行業(yè)

在實驗中，用戶所得到的數據取決于探針的質量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制，全面的質量測試，和AFM領域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心，我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結果，同時也能為將來的研究提供參考數據。

原子力顯微鏡探針/AFM探針:  

探針的工作模式：主要分為：掃描(接觸)模式和輕敲模式

探針的結構：懸臂梁+針尖

探針針尖曲率半徑Tip Radius：一般為10nm到幾十nm。

制作工藝：半導體工藝制作

指標：

探針的指標主要分三個部分，分別對應了基片，微懸臂梁，和針尖三個部分。

1. 基片，就是基片的長，寬，高，各種探針的基片尺寸是基本一致的。

2. 懸臂梁，分為矩形梁和三角形懸臂梁，他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數和共振頻率。而彈性常數K是探針的很重要的一個參數，一般來說，接觸模式的探針的彈性常數小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數是40N/m。

3. 針尖，針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有，曲率半徑(Tip Radius)，探針高度（Tip Height），對應于四面體的指標，前角（Front Angel），后角（Back Angel），側角（Side Angel），還有一個是Tip Set Back，對應的是針尖離懸臂梁*末端的水平距離。

材質：

1. 輕敲探針：一般是單晶硅，型號如RTESP；

2. 接觸模式探針：材質是SiN，而新型號的SNL接觸探針，懸臂梁是SiN，而針尖則Si（曲率半徑2nm左右），這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖；

3. 功能探針：如磁力探針（MESP），導電探針，則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr，SCM-PIT的鍍層是Pt。

常用探針型號介紹：

  常用探針型號介紹

1. 輕敲模式，RTESPA-300，TESP，F(xiàn)ESP

2. 接觸模式，SNL，NP，

3. 智能掃描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+

4. 磁力顯微鏡，MESP-V2,MESP-RC-V2

5. 靜電力顯微鏡，導電AFM，等電學測量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。

6.  其他特殊功能探針。如金剛石探針，大長徑比探針。

原子力顯微鏡探針/AFM探針基本都是由MEMS技術加工 Si 或者 Si3N4來制備. 探針針尖半徑一般為10到幾十 nm。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。典型的硅微懸臂大約100μm長、10μm寬、數微米厚。

　　利用探針與樣品之間各種不同的相互作用的力而開發(fā)了各種不同應用領域的顯微鏡，如AFM（范德法力），靜電力顯微鏡EFM（靜電力）磁力顯微鏡MFM（靜磁力）側向力顯微鏡LFM（探針側向偏轉力）等， 因此有對應不同種類顯微鏡的相應探針。

　　原子力顯微鏡的探針主要有以下幾種：

　?。?/font>1）、 非接觸/輕敲模式針尖以及接觸模式探針：*常用的產品，分辨率高，使用壽命一般。使用過程中探針不斷磨損，分辨率很容易下降。主要應用與表面形貌觀察。

　?。?/font>2）、 導電探針：通過對普通探針鍍10-50納米厚的Pt（以及別的提高鍍層結合力的金屬，如Cr，Ti，Pt和Ir等）得到。導電探針應用于EFM，KFM，SCM等。導電探針分辨率比tapping和contact模式的探針差，使用時導電鍍層容易脫落，導電性難以長期保持。導電針尖的新產品有碳納米管針尖，金剛石鍍層針尖，全金剛石針尖，全金屬絲針尖，這些新技術克服了普通導電針尖的短壽命和分辨率不高的缺點。

　?。?/font>3）、磁性探針：應用于MFM，通過在普通tapping和contact模式的探針上鍍Co、Fe等鐵磁性層制備，分辨率比普通探針差，使用時導電鍍層容易脫落。

　?。?/font>4）、大長徑比探針：大長徑比針尖是專為測量深的溝槽以及近似鉛垂的側面而設計生產的。特點：不太常用的產品，分辨率很高，使用壽命一般。技術參數：針尖高度> 9μm；長徑比5:1；針尖半徑< 10 nm。

　?。?/font>5）、類金剛石碳AFM探針/全金剛石探針：一種是在硅探針的針尖部分上加一層類金剛石碳膜，另外一種是全金剛石材料制備（價格很高）。這兩種金剛石碳探針具有很大的耐久性，減少了針尖的磨損從而增加了使用壽命。

AFM探針 原子力顯微鏡探針 OLTESPA-V3