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行業(yè)產(chǎn)品
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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> Bruker ContourX-200-ContourX-200光學(xué)輪廓儀 用于表面紋理計(jì)量
ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀
用于表面紋理計(jì)量的靈活臺(tái)式
ContourX-200光學(xué)輪廓儀將先進(jìn)的特性,可自定義的選項(xiàng)以及易用性完美融合,可提供yi 流的快速,準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式3D表面度量。具有測(cè)量功能的小尺寸系統(tǒng)使用較大的FOV 5 MP數(shù)碼相機(jī)和新型電動(dòng)XY位移臺(tái),可提供毫不妥協(xié)的2D / 3D高分辨率測(cè)量功能。 ContourX-200還配有業(yè)界先進(jìn)的操作和分析軟件Vision64®。新型VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡(jiǎn)化的功能,可訪問廣泛的預(yù)編程濾鏡和分析庫(kù),用于精密加工的表面,厚膜,半導(dǎo)體,眼科,醫(yī)療設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)應(yīng)用。 ContourX-200具有的Z軸分辨率和精度,在不限制傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡和競(jìng)爭(zhēng)性標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)輪廓儀的情況下,提供了布魯克專有的白光干涉儀(WLI)技術(shù)的所有業(yè)界*的優(yōu)勢(shì)。
ContourX-200 3D光學(xué)輪廓儀
輪廓GT-K
毫不妥協(xié)的yi 流計(jì)量
基于ContourX-200光學(xué)輪廓儀超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,該輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲,高速,高精度和高精度結(jié)果。通過使用多個(gè)目標(biāo)和集成的特征識(shí)別功能,可以在各種視野內(nèi)以亞納米級(jí)的垂直分辨率跟蹤特征,從而為非常不同的行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用提供了與比例無關(guān)的結(jié)果。 ContourX-200在從0.05%到100%的反射率的所有表面情況下都非常堅(jiān)固。
輪廓X-200
WLI為所有目標(biāo)提供恒定且終的垂直分辨率。
輪廓X-200
ContourX-200電動(dòng)載物臺(tái)。
廣泛的應(yīng)用分析能力
利用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision64用戶界面,ContourX-200提供了數(shù)千種定制分析,以提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新相機(jī)提供的更大FOV和新型電動(dòng)XY工作臺(tái)提供的靈活性,為各種樣品和零件提供了更大的靈活性和更高的通量。硬件和軟件相結(jié)合,可提供對(duì)ding 級(jí)光學(xué)性能的簡(jiǎn)化訪問,*超越了同類計(jì)量功能。
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