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Hysitron TS 77 Select 納米壓痕儀

可靠的定量表征

Hys代ron® TS 77 Selec產(chǎn)自動(dòng)臺(tái)式納米力學(xué)和納米摩擦測(cè)試系統(tǒng)提供了同級(jí)別儀器中高的測(cè)試性能，功能性和易用性?；Р剪斂?的Triboscop鏟電容式傳感器技術(shù)，這套新的測(cè)試系統(tǒng)支持從納米到微米尺度的可靠的力學(xué)和摩擦學(xué)表征。 TS Select具有*的性價(jià)比，提供眾多性能優(yōu)異的測(cè)試模塊，包括定量納米壓痕、 動(dòng)態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和高分辨力學(xué)性能成像功能。

•HysitronTS SelectTesting Modes

納米壓痕

高精度力學(xué)表征

納米壓痕是表征局部微結(jié)構(gòu)、界面＼表面微結(jié)構(gòu)和薄   膜的彈性模噩、硬度 ＼ 蠕變、應(yīng)力松弛和斷裂韌性的常見技術(shù) 。采用布魯克的 Hysit ron T「iboScope 電容式傳感器技術(shù)，丁 S Select 支持納米到微米尺度定星可靠的力學(xué) 性能測(cè)量。

力學(xué)性能成像

快速數(shù)據(jù)采集和高速成像

TS  Select 提供比傳統(tǒng)納米壓痕測(cè)試快180倍的高速測(cè)試能力。在寫秒兩次的納米壓痕測(cè)試速度下， 可以在幾分鐘內(nèi)得到非均相材料的高分辨率力學(xué)性能圖像  。此外， 高 速測(cè)試可以快速采集和統(tǒng)計(jì)分析大量測(cè)試數(shù)據(jù)， 從而提高則罩結(jié)果的可信度。

原位SPM成像

實(shí)現(xiàn)的納米力學(xué)

布魯克原位掃描探針顯微技術(shù)( SPM ) 利用納米力學(xué)測(cè)試的壓頭掃描樣品表面從而實(shí)現(xiàn)表面形貌成像。同—尺度下的力學(xué)測(cè)試和形貌掃描保證了納米力學(xué)表征結(jié)果的性 和可靠性。原位 SPM 成像可以實(shí)現(xiàn)納米尺度的定位， 確保力學(xué)測(cè)試在材料上的位置進(jìn)行。

磨損測(cè)試

定量納米尺度耐磨性能

利用TS Select 的SPM 原位掃描成像技術(shù) ， 可以測(cè)噩磨損量和磨損率隨接觸力＼滑動(dòng)速度和磨損次數(shù)的變化。得 益千寬泛的空間測(cè)噩范圍， TS  Select可以輕松實(shí)現(xiàn)局部微觀結(jié)構(gòu)、界面和薄膜的摩擦性能測(cè)試。

TS Select 控制軟件

簡(jiǎn)化的系統(tǒng)操作和數(shù)據(jù)分析

布魯克 丁S Select 的 控制和分析軟件包專門針對(duì)測(cè)試過(guò)程進(jìn)行了精簡(jiǎn)優(yōu)化。優(yōu)化內(nèi)容涵蓋了樣品加載、測(cè)試設(shè)置、測(cè)試執(zhí)行和數(shù)據(jù)分析。TS Select 控制軟件集成了自動(dòng)化樣品測(cè)試和儀器校準(zhǔn)程序， 來(lái)實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單、高效和無(wú)誤的表征。

Hysitron TS Select Options

動(dòng)態(tài)納米壓痕 納米劃痕

動(dòng)態(tài)納米壓痕通過(guò)在準(zhǔn)靜態(tài)力上登加—個(gè)小的振蕩力來(lái)實(shí)現(xiàn)材料表面硬度和模量隨深度變化的連續(xù)測(cè)星。 基于—個(gè)針對(duì)動(dòng)態(tài)測(cè)試優(yōu)化的電容傳感器和一個(gè)集成的鎖相放大器， 動(dòng)態(tài)納米壓痕非常適用千表征力學(xué)性能與測(cè)試深度、 頻率和時(shí)間的關(guān)系。

納米劃痕利用—   個(gè)靜電驅(qū)動(dòng)的二維傳感器來(lái)控制法向力， 同時(shí)測(cè)星探針移動(dòng)所需的橫向力。 由于其橫向位移不依賴千電動(dòng)樣品臺(tái)， 納米劃痕提供了市場(chǎng)上靈敏和可靠的納米尺度摩擦和薄膜粘附力的測(cè)噩手段。

OnlyTS 77 Select

•提供核心測(cè)試技術(shù)的基本工具包：包括納米壓痕、 動(dòng)態(tài)納米壓痕、 納米劃痕、 納米磨損和原位SPM成像

•通過(guò)靜電驅(qū)動(dòng)的電容式位移傳感器實(shí)現(xiàn)高靈敏度和低熱漂移

•具有快速力學(xué)性能成像和大數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析的快速壓痕功能

•通過(guò)直觀易用的軟件設(shè)計(jì)，使入門級(jí)操作人員都能夠進(jìn)行可靠的測(cè)呈

•通過(guò)預(yù)先編入基于ISO 14577和ASTM E2546標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試函數(shù)，使測(cè)試設(shè)備簡(jiǎn)單易用

•自動(dòng)化的系統(tǒng)校準(zhǔn)和多樣品程序化測(cè)試可以大大縮減測(cè)試周期