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TESCAN 聚焦離子束可變真空掃描電鏡     -VELA 3 XMU

• 公司介紹

TESCAN總部坐落在捷克共和國布爾諾市，作為范圍內(nèi)的科學(xué)儀器制造商，TESCAN專注于于研究、開發(fā)、制造掃描電子顯微鏡及其相關(guān)附件和特殊產(chǎn)品，為建立在掃描電子顯微鏡以及針對不同應(yīng)用的相關(guān)系統(tǒng)解決方案領(lǐng)域內(nèi)的品牌做出不懈努力。

通過參與好的端研究項(xiàng)目，通過和其他電子顯微鏡以及顯微分析的制造商的合作，TESCAN致力于持續(xù)不斷的改進(jìn)產(chǎn)品以使其保持在微納技術(shù)創(chuàng)新解決方案領(lǐng)域內(nèi)的競爭力。本著制造品質(zhì)和高可靠性、高穩(wěn)定性產(chǎn)品的原則，借助于良好的資源信息處理系統(tǒng)和優(yōu)化過程管理，我們用頂好的水平的技術(shù)裝備和好高標(biāo)準(zhǔn)的質(zhì)量管理系統(tǒng)確?？蛻魧Ξa(chǎn)品質(zhì)量、價(jià)格、交貨等多方面的滿意。

我們有遍布的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)，銷售團(tuán)隊(duì)和訓(xùn)練有素的工程師保證客戶在好快的時(shí)間內(nèi)得到產(chǎn)品信息和服務(wù)支持。

shi jie*個(gè)*集成式Xe等離子源聚焦離子束掃描電子顯微鏡----FERA3，提供了超高離子束束流（zui高束流為2µA），其濺射速度比Ga離子源高50多倍。對于目前浪費(fèi)時(shí)間或不可能進(jìn)行的需要刻蝕的材料，F(xiàn)ERA3型儀器是一個(gè)不錯(cuò)的選擇。

新一代的聚焦離子束掃描電子顯微鏡為用戶提供了zui新的技術(shù)優(yōu)勢，例如：改進(jìn)的高性能電子設(shè)備使圖像采集得速度更快，帶有靜態(tài)和動態(tài)圖像扭曲補(bǔ)償技術(shù)的超高速掃描系統(tǒng)，內(nèi)置的編程軟件等。

FERA3的設(shè)計(jì)適應(yīng)各種各樣的SEM應(yīng)用與當(dāng)今研究和產(chǎn)業(yè)的需求，其高分辨率、高電流和強(qiáng)大的軟件使TESCAN FIB-SEM成為優(yōu)秀的分析工具。

現(xiàn)代電子光路

• *的三透鏡大視野觀察（Wide Field Optics™）設(shè)計(jì)提供了許多工作與顯示模式，體現(xiàn)了TESCAN*可優(yōu)化電子束光闌的中間鏡設(shè)計(jì)
• 結(jié)合了完善的電子光學(xué)設(shè)計(jì)軟件的實(shí)時(shí)電子束追蹤（In-Flight Beam Tracing™），可模擬和優(yōu)化電子束
• 全自動的電子光路設(shè)置與合軸
• 成像速度快
• 使用3維電子束技術(shù)可獲取實(shí)時(shí)立體圖像
• 三維導(dǎo)航

高性能離子光路

• 高性能的等離子i-FIB設(shè)備使切片和材料的刻蝕既快又精確

維修簡單

現(xiàn)在保持電鏡處在優(yōu)秀的狀態(tài)很簡單，只需要很短的停機(jī)時(shí)間。每個(gè)細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)得很仔細(xì)，使得儀器的效率zui大化，操作zui簡化。

自動操作

電鏡除了可以自動化設(shè)置外，還可進(jìn)行聚焦、調(diào)節(jié)對比度/亮度等自動操作。除此之外，電鏡還有樣品臺自動導(dǎo)航與自動分析 程序，能明顯減少操作員的操作時(shí)間。通過內(nèi)置腳本語言（Python）可進(jìn)入軟件的大多數(shù)功能，包括顯微鏡控制、樣品臺控制、圖像采集、處理與分析等。通過腳本語言用戶還可以自定義自動操作程序。

用戶界面友好的軟件與軟件工具

• 用戶界面友好的操作系統(tǒng)基于Windows™平臺，多用戶和多語言操作界面
• 同時(shí)的FIB/SEM成像，易于操作
• 實(shí)時(shí)圖像支持多窗口模式，可自定義實(shí)時(shí)圖像參數(shù)
• 圖像處理，報(bào)告生成，在線與離線圖像處理