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美國布魯克Bruker原子力顯微鏡-- Dimension Icon
Bruker公司的AFM具有多項(xiàng)技術(shù)，以其的性能廣泛應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域
Dimension Icon 系列作為布魯克公司(Bruker AXS)原子力顯微鏡的旗艦產(chǎn)品，凝聚了多項(xiàng)行業(yè)的技術(shù)，是二十多年技術(shù)創(chuàng)新、客戶反饋和行業(yè)應(yīng)用的結(jié)晶。
應(yīng)用：
應(yīng)用于科研和工業(yè)界各領(lǐng)域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測(cè)量，材料力學(xué)性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物傳感器，分子自組裝結(jié)構(gòu)，光盤存儲(chǔ)，薄膜性能表征等領(lǐng)域的監(jiān)測(cè)等各類科研和生產(chǎn)工作。
原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式（contact mode) ，非接觸模式（ non - contact mode) 和敲擊模式( tapping mode）。
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