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北京亞科晨旭科技有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第6年

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  • CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) Eagle-AP（3D/2D）

    agleT-i是AOI市場(chǎng)上2D檢測(cè)速度快的設(shè)備之一，其中囊括了CAMTEK的機(jī)構(gòu)、新的鏡頭、高速的傳輸信道。檢測(cè)原理與MVP有點(diǎn)類似，都是通過工業(yè)相機(jī)進(jìn)行圖像...

    型號(hào)： CAMTEK E... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:55:45 對(duì)比
    CAMTEKADIAEIAPIALI檢測(cè)
  • CAMTEK 自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn) 2D檢測(cè)設(shè)備 EagleT-I

    agleT-i是AOI市場(chǎng)上2D檢測(cè)速度快的設(shè)備之一，其中囊括了CAMTEK的機(jī)構(gòu)、新的鏡頭、高速的傳輸信道。檢測(cè)原理與MVP有點(diǎn)類似，都是通過工業(yè)相機(jī)進(jìn)行圖像...

    型號(hào)： CAMTEK E... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:53:38 對(duì)比
    CAMTEK自動(dòng)光學(xué)檢驗(yàn)AOI先進(jìn)封裝OQC檢測(cè)
  • 電子加工METCAL（OK）壓力通風(fēng)系統(tǒng)BVX-100

    BVX-100臺(tái)式單用戶吸煙臂/壓力通風(fēng)系統(tǒng)

    型號(hào)： METCAL BV... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:51:22 對(duì)比
    BVX-100METCAL煙霧凈化器美國(guó)OKBVX-200
  • 電子加工：PTC/PTTC 烙鐵頭 焊接、拆焊

    PTC/PTTC 烙鐵頭 [焊接、拆焊和返修系統(tǒng)] 其他配件

    型號(hào)： METCAL-PT... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:49:50 對(duì)比
    METCAL（OK）PTCPTTC烙鐵頭電烙鐵
  • 電子加工METCAL-SSC 烙鐵頭焊接、拆焊

    SSC 烙鐵頭[焊接、拆焊和返修系統(tǒng)]SSC-671A 鑿型，（寬×長(zhǎng)）SSC-771A 1.0 x 9.1 mm （.04“ x .36“）SSC-...

    型號(hào)： METCAL（OK... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:47:58 對(duì)比
    烙鐵頭METCAL美國(guó)OKISSC奧科/奧泰
  • 電子焊接：美國(guó)OKI/METCAL電烙鐵STTC

    美國(guó)OKI/METCAL電烙鐵MX-500/MX-5200/MX-5000手柄線MX-RM3E

    型號(hào)： PTTC 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:45:49 對(duì)比
    METCAL美國(guó)OKI電烙鐵福都工業(yè)奧科/奧泰
  • METCAL（OK）電烙鐵DFP-CN4/DCP-CN4

    METCAL電烙鐵DFP-CN4/DCP-CN4/DFP-CN5/DCP-CN5/DFP-CN6詳細(xì)介紹

    型號(hào)： DFP-CN5/D... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:44:08 對(duì)比
    METCAL（OK）電烙鐵OKIDFP-CN/DCP-CN
  • 高性能電子束曝光機(jī)

    高性能電子束曝光機(jī)是一款高性能的納米光刻系統(tǒng)，擁有完整200mm尺寸的光刻能力，這款電子束光刻系統(tǒng)代表了不斷進(jìn)化的高度成功和廣為市場(chǎng)接受的EBPG系列產(chǎn)品。

    型號(hào)： RAITH- EB... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:42:17 對(duì)比
    RAITH電子束光刻電子束曝光EBLEBPG5200
  • 電子束直寫系統(tǒng) EBPG5150

    EBPG5150使用了155mm大小的樣品臺(tái)，采用跟電子束曝光機(jī)EBPG5200一樣的通用光刻平臺(tái)設(shè)計(jì)，

    型號(hào)： RAITH-EBP... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:40:40 對(duì)比
    RAITH電子束光刻電子束曝光EBLEBPG5150
  • 多功能電子束曝光系統(tǒng)PIONEER Two

    PIONEER Two將專業(yè)電子束曝光設(shè)備和電子成像系統(tǒng)所有的先進(jìn)性能，融合成一套獨(dú)立的成套系統(tǒng)。多功能性、穩(wěn)定性、用戶友好性操作，使PIONEER Two系統(tǒng)...

    型號(hào)： 亞科 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:38:21 對(duì)比
    RAITH電子束光刻電子束曝光EBLPIONEER Two
  • RAITH多功能電子束曝光系統(tǒng)eLINE Plus

    探索超越電子束曝光功能的納米工程系統(tǒng)超高分辨電子束曝光、成像及納米工程系統(tǒng)納米加工領(lǐng)域的瑞士

    型號(hào)： 亞科 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:36:12 對(duì)比
    RAITH電子束光刻電子束曝光EBLeLINE Plus
  • Electron Beam Lithography System（EBL）

    納米光刻技術(shù)在微納電子器件制作中起著關(guān)鍵作用,而電子束光刻在納米光刻技術(shù)制作中是的方法之一。先進(jìn)納米科技提供;的電子束納米光刻（EBL）系統(tǒng)，或稱電子束直寫（E...

    型號(hào)： 亞科 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:33:43 對(duì)比
    亞科電子束光刻電子束曝光EBLCABL-UH
  • 超高分辨率電子束光刻EBL（CABL-UH series）

    納米光刻技術(shù)在微納電子器件制作中起著關(guān)鍵作用,而電子束光刻在納米光刻技術(shù)制作中是的方法之一。日本CRESTEC公司為21世紀(jì)先進(jìn)納米科技提供的電子束納米光刻（E...

    型號(hào)： CRESTEC 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:31:58 對(duì)比
    CRESTEC電子束光刻電子束曝光EBLCABL-UH
  • 電子束光刻系統(tǒng)

    電子束光刻系統(tǒng)特點(diǎn)1.采用高亮度和高穩(wěn)定性的TFE電子槍2.出色的電子束偏轉(zhuǎn)控制技術(shù)3.采用場(chǎng)尺寸調(diào)制技術(shù)，電子束定位分辨率（address size）可達(dá)0....

    型號(hào)： CRESTEC 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:27:53 對(duì)比
    CRESTEC電子束光刻電子束曝光EBL電子束
  • 探針式表面輪廓儀

    探針式表面輪廓儀在嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片及面...

    型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:19:58 對(duì)比
    探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
  • Bruker布魯克Dektak XTL 測(cè)針輪廓儀系統(tǒng)

    Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

    型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:17:50 對(duì)比
    探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
  • 布魯克探針式表面輪廓儀

    Dektak XTL 嚴(yán)格的質(zhì)量保證與控制下獲得300mm性能檢測(cè);可容納多大350mm*350mm的樣品，將Dektak有意的可重復(fù)性和再現(xiàn)性應(yīng)用于大尺寸晶片...

    型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:16:03 對(duì)比
    探針式輪廓儀Dektak-XTL輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XTL
  • Dektak-XT桌面型探針式表面輪廓儀

    布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測(cè)量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測(cè)試，Dektak臺(tái)...

    型號(hào)： BRUKER De... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:14:29 對(duì)比
    探針式輪廓儀Dektak-XT輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER Dektak-XT
  • 探針式表面輪廓儀

    布魯克探針式表面輪廓儀（又稱“臺(tái)階儀"）歷今四十載，積累大量專有技術(shù)。從傳統(tǒng)的二維表面粗糙度和臺(tái)階高度測(cè)量，到更高級(jí)的三維表面成像和薄膜應(yīng)力測(cè)試，Dektak臺(tái)...

    型號(hào)： Dektak XT 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:12:54 對(duì)比
    探針式輪廓儀表面輪廓儀輪廓儀臺(tái)階儀BRUKER布魯克
  • ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡

    ContourGT-K 3D光學(xué)顯微鏡是表面輪廓儀功能和價(jià)值的標(biāo)準(zhǔn)。該系統(tǒng)具有各種2D / 3D測(cè)量，高分辨率成像和用戶友好的界面，該系統(tǒng)以緊湊的封裝和緊湊的占...

    型號(hào)： BRUKER Co... 所在地：北京市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/9/25 15:10:55 對(duì)比
    三維光學(xué)輪廓儀白光干涉儀三維光學(xué)輪廓BRUKER ContourGT
1234567共10頁,195條記錄 跳轉(zhuǎn)

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