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可控硅測(cè)試儀特點(diǎn)如下：采用了鎖相控制的模擬—數(shù)字觸發(fā)電路。相序自適應(yīng)功能，調(diào)試時(shí)不用找相序。具有上電封鎖和脈沖封鎖輸入功能。
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的斷態(tài)電壓臨界上升率dV/dt。數(shù)字顯示斷態(tài)峰值電壓VDM。
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM
晶閘管測(cè)試儀用于測(cè)試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅、可控硅模塊的通態(tài)峰值電流ITM和峰值壓降VTM。整流管的正向峰值電流IFM和峰值壓降VFM。
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