晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
四探針電阻率電導(dǎo)率計 參考價：面議
這款四探針電阻率電導(dǎo)率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導(dǎo)率,適合多種材料和樣品測量。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設(shè)計的工業(yè)級自動四點探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，提供快速、準(zhǔn)確和可靠的晶圓樣品...
晶圓厚度變化測量儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達10nm，可以在幾秒鐘內(nèi)適應(yīng)不同的厚度范圍。
硅片TTV厚度測量儀 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術(shù)的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
玻璃翹曲度測量儀 參考價：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
晶圓翹曲度測量儀 參考價：面議
這款多功能晶圓翹曲度測量儀是為晶圓生產(chǎn)線上自動晶圓翹曲度測量設(shè)計的大型自動晶圓測量儀器,具有晶圓厚度測量,晶圓翹曲度測量,晶圓BOW/WARP測量,晶圓wave...
單晶多晶硅片壽命測試儀 參考價：面議
單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質(zhì)檢驗,測量少子壽命,測量光電導(dǎo)率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測試儀器
晶圓少子壽命測量儀 參考價：面議
這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計的少子壽命測試儀器。
單點少子壽命測量儀 參考價：面議
單點少子壽命測量儀系統(tǒng)是經(jīng)濟型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學(xué)參數(shù)進行表征。
晶圓晶錠壽命測定儀 參考價：面議
晶圓晶錠壽命測定儀是為晶圓晶錠測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計的晶圓晶錠少子壽命測試儀器。采用非接觸式檢測和無損成像（μPCD /...
溫度型少子壽命測試儀 參考價：面議
這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內(nèi)晶圓少數(shù)載流子復(fù)合壽命測量設(shè)計的溫度決定型少子壽命測定儀器。
光學(xué)鍍膜檢測儀 參考價：面議
光學(xué)鍍膜檢測儀PHOTON RT UV-VIS-MWIR是為光學(xué)鍍膜分析檢測設(shè)計的鍍膜掃描分光光度計,滿足光學(xué)樣品的無人值守薄膜測量。測量基片上同一區(qū)域的透射率...
聚合物薄膜測厚儀,進口膜厚儀 參考價：面議
聚合物薄膜測厚儀用于測量polymer films(聚合物薄膜、有機薄膜、高分子薄膜）和 photoresist films （光致抗蝕劑薄膜, 光刻膠膜,光刻...
進口光學(xué)膜厚儀 參考價：面議
光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n和k...
磁場屏蔽消磁儀 參考價：面議
這款磁場屏蔽消磁儀MK-1用于MRI核磁共振和生物磁應(yīng)用的單軸磁場消除和電磁噪音屏蔽消除,非常適合當(dāng)磁場傳感器不能放置在屏蔽空間內(nèi)的應(yīng)用。
磁場消除系統(tǒng),磁場補償系統(tǒng) 參考價：面議
磁場消除系統(tǒng)為掃描電鏡,聚焦離子束FIB消磁或電磁屏蔽設(shè)計的消磁儀器和磁場補償系統(tǒng),有效屏蔽消除磁場噪聲問題,為電子顯微鏡,電子和離子束實驗,磁共振成像MRI,...
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng)ECS 參考價：面議
主動磁場屏蔽消磁系統(tǒng) ECS是專業(yè)為電鏡等電子束儀器屏蔽磁場干擾而設(shè)計的主動磁場屏蔽和主動消磁裝置系統(tǒng).用于為科學(xué)儀器裝置免受磁場干擾影響的環(huán)境.
薄膜厚度均勻性測量儀 參考價：面議
這款薄膜厚度均勻性測量儀采用光譜反射計技術(shù)測量整個樣品薄膜面積的薄膜厚度和薄膜折射率等參數(shù)，獲得整面薄膜厚度分布和薄膜厚度均勻性參數(shù)。
手持式薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀 參考價：面議
這款手持式薄膜測厚儀是便攜式光學(xué)薄膜厚度測量儀,用于透明或半透明單層薄膜或膜系的薄膜厚度測量,薄膜吸收率測量,薄膜透過率測量,薄膜反射率測量,薄膜熒光測量等，這...
光學(xué)膜厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
寬帶光學(xué)膜厚儀是一款臺式光學(xué)薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學(xué)常量折射率n...
光學(xué)薄膜測厚儀 參考價：面議
這款光學(xué)薄膜測厚儀采用光譜反射計技術(shù)測量薄膜反射光譜進測量薄膜厚度和測量薄膜折射率等參數(shù)，非常適合日常已知膜系膜堆測量。
進口大型晶圓探針臺 參考價：面議
大型晶圓探針臺600LS是專業(yè)為300mm晶圓測試設(shè)計的大尺寸晶圓測試探針臺系統(tǒng),廣泛用于6''晶圓,8''晶圓和12''晶圓探針測試應(yīng)用。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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