激光多普勒測(cè)振儀 參考價(jià)：面議
激光多普勒測(cè)振儀是為非接觸式振動(dòng)測(cè)量設(shè)計(jì)的激光測(cè)振儀器,可非接觸式測(cè)量任何表面的振動(dòng),采用激光束準(zhǔn)直對(duì)準(zhǔn)待測(cè)振動(dòng)平面,遠(yuǎn)測(cè)量距離高達(dá)5米,不需要任何光學(xué)和機(jī)械調(diào)...
氣浮減震臺(tái) 參考價(jià)：面議
這款氣浮減震臺(tái)是專業(yè)為精密儀器減震設(shè)計(jì)的氣浮式隔振臺(tái),采用氣浮減震支腿和蜂窩減震平臺(tái)以及人體防護(hù)扶手組成,廣泛用于原子顯微鏡減震隔振,掃描電鏡減震隔振等精密儀器...
納米掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款納米掃描電鏡SEM-20是臺(tái)式掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)電鏡應(yīng)用。
臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款臺(tái)式掃描電鏡SEM-30是納米掃描電鏡,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非常適合納米科學(xué),材料科學(xué)研究。
EDS掃描電鏡 參考價(jià)：面議
這款EDS掃描電鏡SEM-30AX是安裝有Thermal公司緊湊型EDS探測(cè)器的高性價(jià)比掃描電鏡,集成了掃描電鏡和能量色散光譜儀功能,具有較低的掃描電鏡價(jià)格，非...
高分辨率掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競(jìng)爭(zhēng)力的掃描電鏡價(jià)格,廣泛用于科研單位使用。
晶圓灰化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
晶圓灰化系統(tǒng)是為晶圓ashing設(shè)計(jì)的晶圓灰化機(jī),wafer ashing,廣泛用于本體抗蝕劑,LDI后抗蝕劑,聚合物去除。
多功能量子效率測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
這套多功能太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)量系統(tǒng)是多用途量子效率測(cè)試系統(tǒng),一套量子效率測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)量：薄膜厚度, 折射率，透過率，光學(xué)常數(shù), 光譜響應(yīng)（Spectral ...
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI,晶圓光學(xué)jian測(cè) 參考價(jià)：面議
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測(cè),自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)晶圓、芯片、引線鍵合等。
3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng),AOI,SMT半導(dǎo)體 參考價(jià)：面議
這款3D自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)是為晶圓AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的全自動(dòng)3D AOI三維自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,可應(yīng)用于SMT生產(chǎn)線和半導(dǎo)體制造的第二道工序。
薄膜粘附力熱學(xué)測(cè)試儀 參考價(jià)：面議
這款薄膜粘附力熱學(xué)測(cè)試儀是為薄膜厚度測(cè)量,薄膜粘附力測(cè)量和薄膜熱導(dǎo)率測(cè)量設(shè)計(jì)的薄膜特性分析測(cè)試儀器。采用光聲顯微鏡和異步光學(xué)采樣ASOPS技術(shù)實(shí)現(xiàn)高精度薄膜力學(xué)...
高壓探針臂,高壓電流探針測(cè)試,probe arm 參考價(jià)：面議
這款高壓探針臂 probe arm也是大電流探針臂,可加持各種探針,滿足20KV和200A的高壓電流探針測(cè)試。
三軸探針臂,同軸探zhen臂,probe arm 參考價(jià)：面議
三軸探針臂,同軸探針臂是為探針測(cè)量專用三軸探針夾具,Triaxial probe arm.
晶圓分揀機(jī)器人,自動(dòng)晶圓fen揀機(jī) 參考價(jià)：面議
晶圓分揀機(jī)器人是為大尺寸晶圓硅片分揀分選設(shè)計(jì)的自動(dòng)晶圓分揀機(jī)系統(tǒng)，可分選高達(dá)12''尺寸晶圓。
帶式晶圓分選機(jī),硅片分選 參考價(jià)：面議
帶式晶圓分選機(jī)belt sorter是專業(yè)為晶圓硅片分選設(shè)計(jì)的皮帶式晶圓硅片分選機(jī),最大可適合8''晶圓分選分揀,非常適合晶圓硅片的生產(chǎn)測(cè)試。
光纖連接器端面測(cè)試干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖連接器端面測(cè)試干涉儀FiBO®200是經(jīng)濟(jì)型的光纖接頭端面分析測(cè)量?jī)x器。具有光纖接頭高分辨率3D表面計(jì)量和自動(dòng)缺陷檢測(cè)功能?？稍谏a(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)或現(xiàn)場(chǎng)快速...
光纖連接器端面檢測(cè)儀,光纖接頭端面干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖連接器端面檢測(cè)儀FiBO®250是光纖接頭端面干涉儀是對(duì),可提供高分辨率3D表面計(jì)量和自動(dòng)缺陷檢測(cè)結(jié)合。
光纖端面幾何測(cè)量?jī)x,相移干涉儀 參考價(jià)：面議
光纖端面幾何測(cè)量?jī)xFiBO®300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對(duì)裸光纖和非標(biāo)準(zhǔn)光纖連接器的光纖端面幾何結(jié)構(gòu)測(cè)量分析?？勺児?..
光纖色散測(cè)試儀,PMD單模光纖中偏振色散 參考價(jià)：面議
光纖色散測(cè)試儀CD500是為光纖色散測(cè)量涉及的色散測(cè)量系統(tǒng),具有測(cè)量PMD單模光纖中偏振色散功能,非常適光纖和光纜生產(chǎn)檢測(cè)。
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)x,光纖guang譜損耗 參考價(jià)：面議
光纖光譜衰減測(cè)量?jī)xSA500HD是為光纖衰減測(cè)量設(shè)計(jì)的光纖衰減測(cè)試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術(shù)測(cè)量光纖光譜損耗對(duì)波長(zhǎng)的變化。高動(dòng)態(tài)范圍允許測(cè)試現(xiàn)在在中發(fā)現(xiàn)的...
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng),MFD和Aeff測(cè)試 參考價(jià)：面議
模場(chǎng)直徑有效面積測(cè)量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場(chǎng)直徑測(cè)試和光纖有效面積分析測(cè)量設(shè)計(jì)的MFD和Aeff測(cè)試儀器。
開爾文探針系統(tǒng),功函數(shù),Kelvin Probe 參考價(jià)：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學(xué)中,精確測(cè)量不同半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉(zhuǎn)移和功函數(shù)變化中起著重要作用。
自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI,晶圓,引線鍵合檢測(cè) 參考價(jià)：面議
大型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)AOI是為14''晶圓光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)器,非常適合微電子與半導(dǎo)體檢測(cè),自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)晶圓、芯片、引線鍵合等。
電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI,PCBA光學(xué)jian測(cè) 參考價(jià)：面議
電路板自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)AOI Systems是為電路板PCB和PCBA光學(xué)檢測(cè)設(shè)計(jì)的線上桌面型自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)機(jī)。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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