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INTECS英特斯晶圓 光學(xué)檢測(cè)目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨PX 4047
INTECS英特斯光學(xué)檢測(cè)用目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3DPX 4047
INTECS英特斯晶圓缺陷目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3DPX 4047
INTECS英特斯現(xiàn)貨晶圓缺陷鹵素?zé)鬠IH-3D灰塵照射檢測(cè)燈PX 4047
UIH-3D現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 4047
UIH-2D現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 4047
UIH-1C現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈PX 4047
愛(ài)安德晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德安德魯斯S-VAN光學(xué)檢測(cè)目視光源185LE現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德光學(xué)檢測(cè)設(shè)備目視光源185HLE照明裝置現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德光學(xué)檢測(cè)185LE電源控制器185HLE-MK2現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德晶圓缺陷185LE L專(zhuān)配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德晶圓缺陷185LE-AL標(biāo)配鹵素?zé)舯?85/17LFAPX 4047
愛(ài)安德185LE晶圓缺陷檢查燈現(xiàn)貨鹵素?zé)舯?85/17LFAPX 4047
愛(ài)安德sena高照度玻璃185LE晶圓缺陷檢查燈現(xiàn)貨PX 4047
愛(ài)安德晶圓缺陷表面檢查燈sena lamp現(xiàn)貨370TFI/RPX 4047
愛(ài)安德現(xiàn)貨高照度185LE-AL手持晶圓缺陷表面檢查燈PX 4047
愛(ài)安德SENA 高照度晶圓缺陷表面檢查燈185LE現(xiàn)貨PX 4047
K039 / K050 / K075 / K100日本kita電路板接觸式高負(fù)荷彈簧探針PX 4972
KT系列日本kita電路板接觸式旋轉(zhuǎn)彈簧探針PX 4972
日本kita電路板接觸式高電流彈簧探針PX 4972
日本kita半導(dǎo)體接觸式高頻彈簧探針PX 4972
日本kita半導(dǎo)體接觸式大電流彈簧探針PX 4972
日本kita半導(dǎo)體接觸式非磁性彈簧探針PX 4972
4端子連接日本kita半導(dǎo)體接觸式開(kāi)爾文彈簧探針PX 4972
0.15?0.25mm間距日本kita半導(dǎo)體接觸式窄間距彈簧探針PX 4972
0.3-1.0 mm間距日本kita半導(dǎo)體接觸式彈簧探針PX 4972
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測(cè)機(jī)PX 5013
BX-G3486高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3484高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3477高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3472高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3466高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3466高性能-太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3459高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3458高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3457高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3456高性能太陽(yáng)膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3455多功能隔熱膜測(cè)試儀PX 3619
BX-G3454多功能隔熱膜溫度測(cè)試儀PX 3619
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)
半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)
無(wú)圖晶圓粗糙度測(cè)量系統(tǒng)
襯底電阻率方阻測(cè)試儀
玻璃方阻測(cè)試儀
金屬薄膜方阻測(cè)試儀
氧化鎵電阻率方阻測(cè)試儀
碳化硅電阻率方阻測(cè)試儀
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開(kāi)裂測(cè)試儀
KYOWA共和應(yīng)力測(cè)試儀傳感器接口放大記錄器
全自動(dòng)非接觸電阻率方阻測(cè)試儀
半導(dǎo)體共面性測(cè)量設(shè)備
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營(yíng)許可證
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