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WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量
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WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)通過(guò)非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌進(jìn)
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WD4000無(wú)圖晶圓粗糙度測(cè)量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)
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襯底,或稱(chēng)基片(substrate),是指在半導(dǎo)體器件制造過(guò)程中用來(lái)支
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應(yīng)用ITO導(dǎo)電玻璃的時(shí)候,往往會(huì)提到一個(gè)重要的參數(shù),這個(gè)參數(shù)就是
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金屬薄膜方阻,方塊電阻又稱(chēng)膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃
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氧化鎵是一種無(wú)機(jī)化合物,化學(xué)式為Ga2O3。別名三氧化二鎵,是一種
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1、電阻率ρ不僅和導(dǎo)體的材料有關(guān),還和導(dǎo)體的溫度有關(guān)。在溫度變
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