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日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列
日本ULVAC愛發(fā)LuminousNA-8000科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列日本ULVAC愛
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WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量
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WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測系統(tǒng)通過非接觸測量,將晶圓的三維形貌進(jìn)
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WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)
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襯底,或稱基片(substrate),是指在半導(dǎo)體器件制造過程中用來支
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應(yīng)用ITO導(dǎo)電玻璃的時候,往往會提到一個重要的參數(shù),這個參數(shù)就是
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金屬薄膜方阻,方塊電阻又稱膜電阻,是用于間接表征薄膜膜層、玻璃
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氧化鎵是一種無機(jī)化合物,化學(xué)式為Ga2O3。別名三氧化二鎵,是一種