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在線詢價(jià)
SM200系列光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 3230
FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀PX 3230
FR-uProbe微米級(jí)光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3230
HM-S100非接觸光學(xué)半自動(dòng)薄膜厚膜檢測(cè)設(shè)備PX 0
WTS-0421晶圓電阻測(cè)量?jī)xPX 0
WD4000晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備PX 5013
WD4000半導(dǎo)體晶圓表面形貌檢測(cè)設(shè)備PX 5013
VT6100共焦顯微鏡測(cè)量?jī)xPX 5013
WD4000晶圓表面形貌測(cè)量設(shè)備PX 5013
WD4000無圖晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)PX 5013
日本 Toho FLX-2320系列薄膜應(yīng)力測(cè)試儀PX 0
QUASAR-R100系列反射式膜厚儀PX 0
半導(dǎo)體缺陷檢測(cè) PULSAR系列PX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2-EFEMPX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT2PX 0
透明晶圓缺陷掃描Lumina AT1PX 0
Cchip-0019高深寬比紫外光刻機(jī)PX 0
Sneox高精度晶圓測(cè)試儀晶圓厚度測(cè)量?jī)xPX 1930
DEKTAK XT/XTL半導(dǎo)體測(cè)量?jī)x器-臺(tái)階儀PX 0
晶圓搬運(yùn)機(jī)loader含顯微鏡PX 0
QVT1-L404Z1L-DMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X302P1L-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X404P1L-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X404P1C-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X404T1L-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X404T1C-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X606P1L-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X606P1C-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X606T1L-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
QV-X606T1C-EMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
RTX-0605-AMITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
ROUNDTRACER S300MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/圓形示蹤器PX 4092
FTA-S4D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/圓形示蹤器PX 4092
FTA-H4D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/圓形示蹤器PX 4092
FTA-W4D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/圓形示蹤器PX 4092
FTA-L4D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/圓形示蹤器PX 4092
FTA-S8D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
FTA-H8D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
FTA- W8D3000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
FTA-H4D4000MITUTOYO三豐/精密測(cè)量?jī)x/影像測(cè)量機(jī)PX 4092
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長(zhǎng)設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
日本ULVAC愛發(fā)科半導(dǎo)體灰化裝置NA系列
晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)
半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)
無圖晶圓粗糙度測(cè)量系統(tǒng)
襯底電阻率方阻測(cè)試儀
玻璃方阻測(cè)試儀
金屬薄膜方阻測(cè)試儀
氧化鎵電阻率方阻測(cè)試儀
聚乙烯土工薄膜應(yīng)力開裂測(cè)試儀
KYOWA共和應(yīng)力測(cè)試儀傳感器接口放大記錄器
全自動(dòng)非接觸電阻率方阻測(cè)試儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
廣播電視節(jié)目經(jīng)營(yíng)許可證
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