供貨周期 | 一個月 | 貨號 | 7800370 |
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主要用途 | 貝克曼儀器配套使用 |
訂貨號:7800370,7800372,7800377,7800499
貝克曼原廠原包裝。
參考價 | ¥2000 |
訂貨量 | 1 |
更新時間:2024-08-14 12:52:05瀏覽次數(shù):3923
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貝克曼標準測試試劑,貝克曼標準測試粉末,貝克曼標準粒子。
訂貨號:7800370,7800372,7800377,7800499
廣州北瑞色譜科技有限公司專業(yè)提供貝克曼各類標準測試試劑。標準粒子等,如您需要的不在本列表,請致電我司查詢。
Part No | Description |
6600703 | Dispersant IA Nonionic (15 mL) |
6600704 | Dispersant IB Nonionic (15 mL) |
6600705 | Dispersant IC Nonionic (15 mL) |
6600706 | Dispersant IIA Anionic (15 mL) |
6600707 | Dispersant IIIA Cationic (15 mL) |
6600708 | Dispersant Mixed Kit (5 x 15 mL) |
7800370 | G15, Nominal 15 µm Garnet Particles (10/box) |
7800372 | GB500, Nominal 500 µm Glass Beads (5 x 19 g) |
7800377 | L300, Nominal 300 nm Latex Particles |
7800499 | G35, Nominal 35 µm Garnet Particles |
8546733 | isoton Ⅲ diluent |
粒度分析的基本概念
(1)顆粒:具有一定尺寸和形狀的微小物體,是組成粉體的基本單元。它宏觀很小,但微觀卻包含大量的分子和原子;
(2)粒度:顆粒的大小;
(3)粒度分布:用一定的方法反映出一系列不同粒徑顆粒分別占粉體總量的百分比;
(4)粒度分布的表示方法:表格法(區(qū)間分布和累積分布)、圖形法、函數(shù)法,常見的有R-R分布,正態(tài)分布等;
(5)粒徑:顆粒的直徑,一般以微米為單位;
(6)等效粒徑:指當一個顆粒的某一物理特性與同質(zhì)球形顆粒相同或相近時,我們就用該球形顆粒的直
徑來代表這個實際顆粒的直徑;
(7)D10,累計分布百分數(shù)達到10% 所對應(yīng)的粒徑值;
D50,累計分布百分數(shù)達到50%時所對應(yīng)的粒徑值;又稱中位徑或中值粒徑;
D90,累計分布百分數(shù)達到90%時所對應(yīng)的粒徑值;
D(4,3)體積或質(zhì)量粒徑平均值;
常用的粒度測量方法
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫爾特顆粒計數(shù)器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點
篩分法:優(yōu)點:簡單、直觀、設(shè)備造價低、常用于大于40μm的樣品。缺點:不能用于40μm以細的樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法:優(yōu)點:簡單、直觀、可進行形貌分析。 缺點:速度慢、代表性差,無法測超細顆粒。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點:操作簡便,儀器可以連續(xù)運行,價格低,準確性和重復(fù)性較好,測試范圍較大。 缺點:測試時間較長。
電阻法:優(yōu)點:操作簡便,可測顆??倲?shù),等效概念明確,速度快,準確性好。 缺點:測試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質(zhì)應(yīng)具備嚴格的導(dǎo)電特性。
電鏡法:優(yōu)點:適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點:樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法:優(yōu)點:可對高濃度漿料直接測量。 缺點:分辨率較低。
透氣法:優(yōu)點:儀器價格低,不用對樣品進行分散,可測磁性材料粉體。 缺點:只能得到平均粒度值,不能測粒度分布。
激光法:優(yōu)點:操作簡便,測試速度快,測試范圍大,重復(fù)性和準確性好,可進行在線測量和干法測量。 缺點:結(jié)果受分布模型影響較大