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目錄:北京卓立漢光儀器有限公司>>光譜儀器>>激光閃光光解光譜儀>> Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)

寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)
  • 寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 ZOLIX/卓立漢光
  • 型號 Omni-TAM900
  • 廠商性質 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
屬性

應用領域:綜合

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更新時間:2024-05-20 21:45:26瀏覽次數(shù):1194評價

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應用領域 綜合
Omni-TAM900為北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的一款寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成像和動力學于一體,聯(lián)合飛秒泵浦-探測技術和顯微技術,通過自主知識產(chǎn)權的干涉放大技術增強圖像信噪比,可獲得高質量的成像效果并大幅度縮短測試時間。

背景介紹—瞬態(tài)吸收光譜和瞬態(tài)吸收成像的應用
基于泵浦探測(Pump-Probe)原理的瞬態(tài)吸收光譜,在頻率維度和時間維度上提供了豐富的光譜和動力學信息,過去的幾十年應用于物理、化學、材料、能源、生物等廣泛領域。當今,許多領域科學研究的范式和需求都在不斷更新。尤其是隨著鈣鈦礦光伏、二維材料、量子器件、高溫超導等前沿領域的發(fā)展,科學家迫亟需在空間維度上揭示載流子等微觀離子的遷移和演化規(guī)律,研究微納米材料的物理態(tài)在空間分布上的異質性。瞬態(tài)吸收成像,可在空間和時間維度上研究微觀粒子和能量的運動和演化,是研究微觀粒子和能量的時空演化、闡釋微觀機制的重要工具。

瞬態(tài)吸收成像,一般有兩種實現(xiàn)方式,點掃描成像和寬場成像。相對點掃描成像,寬場成像模式具有速度快、通量高,成像質量更加細膩的特點。

Omni-TAM900為北京卓立漢光儀器有限公司全新推出的一款寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)。該系統(tǒng)集成像和動力學于一體,聯(lián)合飛秒泵浦-探測技術和顯微技術,通過自主知識產(chǎn)權的干涉放大技術增強圖像信噪比,可獲得高質量的成像效果并大幅度縮短測試時間。

儀器基本功能和性能:儀器具有點泵浦-寬場探測,和寬場泵浦-寬場探測兩種工作模式。分點泵浦模式可用于測量載流子遷移和熱導率等;寬場泵浦模式可用于測量載流子分布和物理態(tài)的空間異質性等。


儀器特點和創(chuàng)新
高靈敏、高通量,可測量到單個納米顆粒、單層石墨烯乃至單層分子晶體的瞬態(tài)吸收信號。


儀器原理和實現(xiàn)方式

Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)原理如下圖所示,經(jīng)過飛秒激光器和光學參量放大器(OPA)之后出來的飛秒激光,通過顯微鏡的光學系統(tǒng)進入,并作為泵浦光源激發(fā)樣品,而另一束經(jīng)過空間調制的探測光在一定的時間延遲之后也經(jīng)過顯微系統(tǒng)到達樣品,樣品在激發(fā)態(tài)對探測光產(chǎn)生的吸收情況會被顯微鏡上的sCMOS 相機記錄下來。通過調節(jié)光學延遲線(Optical Delay Line),得到樣品在不同延遲時間下的sCMOS圖像。

Omni-TAM900 可以有兩種成像模式(如下圖所示): 聚焦泵浦光模式(點泵浦,寬場探測)和寬場泵浦光模式(寬場泵浦、寬場探測),前者主要用于研究載流子的遷移,后者用于檢測載流子的空間分布狀況。


軟件

軟件可進行同步采集,自動控制和處理,載流子的壽命、載流子的遷移速率、載流子的分布、動力學等信息均可以通過軟件得到。


應用方向及實測數(shù)據(jù)
Omni-TAM900寬場飛秒瞬態(tài)吸收成像系統(tǒng)是測量載流子時空演化的強大工具,可廣泛應用于物理、材料及器件的前沿研究,比如:太陽能電池、低維材料、量子器件、超導材料、新型半導體、納米催化、生物傳感等,對納米尺度和飛秒時空尺度中的超快的物理、化學及生物過程進行監(jiān)測。
金屬鍍膜中的載流子遷移和熱擴散
10 nm厚金屬薄膜上的超快熱載流子和熱擴散,采用儀器的點激發(fā),寬場探測模式。
半導體中的載流子遷移和熱擴散
同時監(jiān)測Si基半導體中的載流子遷移和熱擴散(可測量半導體材料的熱導率),采用儀器的點激發(fā),寬場探測模式。
光伏材料中的載流子遷移和演化
鈣鈦礦CsPbBr3載流子成像,遷移動力學及邊緣態(tài)動力學研究。采用儀器的寬場激發(fā),寬場探測模式
催化材料中的熱載流子分布和“熱點"
局部熱電子密度高、壽命長,可能具有更高的催化活性。采用儀器的寬場激發(fā),寬場探測模式。
新型二維材料中的邊緣物理態(tài)研究
二維WS2中激子分布情況,激子壽命研究??梢钥吹?,多層的邊緣具有更高激子密度和更長激子壽命
技術參數(shù)

光源

飛秒激光 +OPA,激光波長范圍取決于應用場景

檢測器

sCMOS

成像空間分辨率

500 nm

載流子遷移定位精度

30nm

時間分辨率

500 fs (100 fs 激光脈沖條件下)

時間延遲線

0-4 ns/0-8 ns

顯微鏡模塊

倒置顯微鏡,上方為開放空間,后期可兼容低溫模塊、探針臺、電學調控、磁場等特殊實驗場景。

測量模式

點泵浦 + 寬場探測(載流子遷移)

寬場泵浦 + 寬場探測(載流子分布)

儀器工作模式

反射 / 散射

已發(fā)表文獻:
J. Am. Chem. Soc. 2022, 144, 13928專li:202110510123.X(以上展示的所有實測數(shù)據(jù)均為本型號儀器測得,并已公開發(fā)表,更多細節(jié)請查閱以上文獻)。

更多參考文獻:
(為了方便用戶參考研究前沿,如下列出一些國際上利用瞬態(tài)吸收成像方法的研究案例。這些數(shù)據(jù)并非用該型號儀器獲得,但是卓立Omni-TAM900儀器可實現(xiàn)這些應用場景中的絕大多數(shù)功能。如有特殊需求,歡迎與卓立漢光聯(lián)系。)
Science 2017, 356, 59 (鈣鈦礦超長熱載流子)
Nat. Mater. 2020, 19, 617 (轉角二維量子異質結)
Science 2021, 371, 371 (超導材料電荷密度波)
Science 2022, 377, 437 (立方砷化硼超高載流子)
Nat. Mater. 2020 , 9, 56 (材料中的攜能載流子)


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