中村代理-SSD靜電衰減測量儀

中村代理-SSD靜電衰減測量儀

H0110-S4B

靜電衰減測量儀適用于研究材料的靜電耗散特性。它是用電暈放電產(chǎn)生的空氣離子照射樣品使其帶電，然后檢查空氣離子照射后的電荷衰減曲線的裝置。停止了。全新升級為H0110-S4B。

該裝置符合JS L1094-1980的半衰期測量裝置，即機織和針織材料的帶電測試方法。(如果需要用20毫米探頭高度進行校準，請在購買時注明。)

作為樣品帶電的方法，我們采用電量放電產(chǎn)生的空氣離子照射，因此通過選擇電量放電的極性和施加的電壓，可以使樣品帶正電或負電，并且可以改變電壓值也可以改變。

可以測量所有片狀樣品，例如薄膜、板材、線、布料、地毯和玻璃。但重量、厚度、尺寸有限制，請聯(lián)系我們。

Honest 提供演示測量。詳情請聯(lián)系我們。

誠實數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)已更新至V3。 Honest本身也兼容H0110-S4B.

為了將V3連接到H0110-S4A，需要對主機進行修改。對于其他舊型號，可能無法修改連接，請聯(lián)系我門。

從 HO110-S4 開始，校準期間的標準探頭高度現(xiàn)在為 15 mm(符合JS)。如需20mm校準，請在訂購時注明。

購買時請注明AC100V 50Hz/60Hz。