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擴展折射率指數(shù)測量極限

我們的反射儀的特點是通過樣品的高度和傾斜調(diào)整進行準確的單光束反射率測量，光學布局的高光導允許對n和k進行重復測量，對粗糙表面進行測量以及對非常薄的薄膜進行厚度測量。

紫外-近紅外光譜范圍

RM 1000 430?nm?–?930?nm

RM 2000 200?nm?–?930?nm

高分辨率自動掃描

反射儀RM 1000和RM 2000可以選配x-y自動掃描臺和自動掃描軟件、用于小光斑尺寸的物鏡和攝像機。

反射膜厚儀RM 1000和RM 2000測量具有光滑或粗糙表面的平坦或彎曲樣品的反射率。利用SENTECH FTPadv Expert軟件計算單層或?qū)盈B膜的厚度、消光系數(shù)和折射率指數(shù)。在紫外-可見光- 近紅外光譜范圍內(nèi)，可以分析5nm～50μm厚度的單層膜、層疊膜和基片。

RM 1000和RM 2000代表SENTECH反射儀。臺式裝置包括高度穩(wěn)定的光源、具有自動準直透鏡和顯微鏡的反射光學部件、高度和傾斜可調(diào)的樣品臺、光譜光度計和電源。它可以選配x-y自動掃描臺和自動掃描軟件、用于小光斑尺寸的物鏡和攝像機。

除了膜厚和光學常數(shù)之外，我們的反射儀還可以測量薄膜(例如，AlGaN on GaN，SiGe on Si)、防反射涂層(例如，紋理硅太陽能電池上的防反射涂層、紫外敏感GaN器件上的防反射涂層)，以及小型支架上的防反射涂層。該反射儀支持在微電子、微系統(tǒng)技術、光電子、玻璃涂層、平板技術、生命科學、生物技術等領域的應用。