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當(dāng)前位置:> 供求商機> IM 4000Ⅱ 標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
使用低能量Ar離子束,加工無應(yīng)力損傷的樣品截面,為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、異物解析、層厚測量等提供有效的樣品前處理方法?;虺悠繁韺樱庸こ龅蛽p傷平面。
離子研磨儀標(biāo)準(zhǔn)機型能夠進行截面研磨和平面研磨。還可通過低溫控制及真空轉(zhuǎn)移等各種選配功能,針對不同樣品進行截面研磨。
┃ 設(shè)備特點
高效研磨
配備截面研磨能力達到500µm/h*1以上的高效率離子槍。即使是硬質(zhì)材料,也可以高效地制備出截面樣品
截面研磨
即使是由不同硬度以及研磨速度材質(zhì)所構(gòu)成的復(fù)合材料,也可以制備出平滑的研磨面
優(yōu)化加工條件,降低因離子束所致樣品的損傷
可裝載20mm(W)×12mm(D)×7mm(H)的樣品
平面研磨
直徑約為5mm范圍內(nèi)的均勻加工
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛
可裝載直徑50mm×高度25mm的樣品
可選擇旋轉(zhuǎn)和擺動(±60度,±90度的擺動)2種加工方法
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