系統(tǒng)配置豐富，高分辨θ/θ閉環(huán)測(cè)角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、多位自動(dòng)換樣系統(tǒng)、包括多層膜反射鏡平行光系統(tǒng)的全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)和二維陣列半導(dǎo)體探測(cè)器，配合功能齊全的控制和分析軟件，可在室溫和變溫條件下實(shí)現(xiàn)覆蓋固體粉末、薄膜、納米材料、塊體材料和液體樣品的常規(guī)衍射、掠入射衍射、in-plane衍射、X射線反射和小角X射線衍射(SAXS)等多種模式測(cè)量，可執(zhí)行高精度全自動(dòng)物質(zhì)結(jié)構(gòu)測(cè)試分析任務(wù)。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)

• 高強(qiáng)度X射線光源

• 高能量分別率的二維探測(cè)器

• 豐富的CBO光學(xué)附件，全自動(dòng)光路切換和校準(zhǔn)

• 全新SmartLab Studio Ⅱ 軟件，與硬件結(jié)合，并且集成了眾多原位測(cè)量功能