日本TET東京電子交易株式會社 ESD1100系列共分為3個型號，分別是：

●1100-ESD（ESD試驗專用型號）

●1100-CDM （CDM試驗專用型號）

●1100-LUP （LATCH UP閂鎖 試驗專用型號）

TET半導體CDM測試儀可廣泛應用于器件的開發(fā)設計評價、認證接收檢查、品保評價、操作環(huán)境評價等各種試驗用途。

ESD試驗是測試靜電放電干擾（ESD脈沖）和器件破損之間的關(guān)系。ESD干擾有HBM（人體帶電模型）和MM（機械帶電模型）兩種。Model 1100-ESD可以進行這兩種干擾的測試。另外，還可以通過選件，追加想要進行的ESD測試。可以對64 pin器件進行全自動的滿足標準的全引腳組合的測試。另外，帶有簡單的進行ESD波形自動測試的軟件，準備好示波器、電流探頭、衰減器后，可以確認滿足標準的波形，安心的進行ESD試驗。

TET半導體CDM測試儀本機臺在三軸構(gòu)造的機械手上裝配HBM或MM的ESD發(fā)生模塊（EPG模塊），可進行滿足國內(nèi)外標準的ESD試驗。

CDM試驗有感應充電法（FI-CDM）和直接充電法（DI-CDM）兩種。兩種的區(qū)別是給器件充電的方法不同，但都是模擬充電好的器件引腳和金屬接觸時的干擾。本試驗裝置這兩種充電方式都可以進行試驗。

LUP閂鎖試驗是測試由于外來噪聲（觸發(fā)源）引起的器件閂鎖抗擾度。本裝置裝備了電流脈沖、電源過電壓脈沖作為觸發(fā)源。閂鎖現(xiàn)象通過施加觸發(fā)后電源電流的增加來判定。為了獲得穩(wěn)定的試驗結(jié)果，可能需要提供上拉/下拉以穩(wěn)定Inom，本裝備通過專用的夾具板，用跳線連接。

*可通過聯(lián)系我們咨詢或自行根據(jù)希望的用途來選擇型號*