手動簡易探針臺可吸附多種規(guī)格芯片與器件，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成對半導(dǎo)體器件的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。主要通過連接儀器及待測物實現(xiàn)器件的參數(shù)提取，通過自帶的驅(qū)動及測試軟件能夠獨立實現(xiàn)器件的電學特性測試，為精密器件提供一個良好的系統(tǒng)平臺。手動簡易探針臺可以搭配多種測試儀器使用，比如示波器，頻譜儀，IV等等。

通過探針接觸的方法給器件施加光電信號來測量半導(dǎo)體器件伏安特性（即電壓-電流特性）的儀器，在測量及選用半導(dǎo)體器件時有著廣泛的用途。

特點

-可選配高溫測試環(huán)境

-可選直筒顯微鏡和體式顯微鏡

-載物臺可Z軸升降

-載物臺Theta可粗調(diào)360°，微調(diào)±7°

-載物臺XY移動分辨率為1um。

-可選配高壓高流測試環(huán)境

-快速裝片并可任意位置鎖定功能

-顯微鏡支架萬向桿

可選配件

-射頻測試探頭及電纜

-低漏電電流/電容測試

-激光修復(fù)

-探針卡/封裝/PCB 板夾具

-有源探頭

-高壓高流模塊

-高清數(shù)字相機

-Hot Chuck

-載物臺水平調(diào)節(jié)機構(gòu)

兼容儀器

-各種型號示波器

-各品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀，博測，是德，泰克，概倫等

-各種品牌的網(wǎng)絡(luò)分析儀，是德，羅德施瓦茨， 思儀等

-各種品牌型號的源表

也可使用自己搭建的半導(dǎo)體參數(shù)分析儀。

應(yīng)用領(lǐng)域

-Failure analysis 集成電路失效分析

-Wafer level reliability 晶元可靠性認證

-Device characterization 元器件特性量測

-Process modeling 塑性過程測試(材料特性分析)

-IC Process monitoring 制成監(jiān)控

-Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試

-ESD&TDR testing ESD和TDR測試

-Microwave probing 微波量測(高頻測試)

-Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析

-LED、OLED、LCD領(lǐng)域檢測分析

-PCB領(lǐng)域檢測分析

-VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測試

可根據(jù)具體需求定制，大部分需求都可滿足，歡迎聯(lián)系！