無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

高低溫試驗(yàn)箱與搭配功率器件溫度測(cè)試的區(qū)別

高低溫試驗(yàn)箱與搭配功率器件溫度測(cè)試的區(qū)別

　　高低溫試驗(yàn)箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高、低溫的可靠性試驗(yàn),高低溫試驗(yàn)箱主要用于對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下，檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

　　搭配功率器件溫度測(cè)試按規(guī)定的技術(shù)要求可對(duì)試樣進(jìn)行溫度急驟變化試驗(yàn)的搭配功率器件溫度測(cè)試,搭配功率器件溫度測(cè)試主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

　　搭配功率器件溫度測(cè)試主要用于對(duì)產(chǎn)品按照要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。濕度傳感器探頭,不銹鋼電熱管PT100傳感器,鑄鋁加熱器,加熱圈,流體電磁閥。

高低溫試驗(yàn)箱溫與搭配功率器件溫度測(cè)試的本質(zhì)區(qū)別就在于溫度的驟變上，其效率不同，高低溫試驗(yàn)箱主要體現(xiàn)在調(diào)控溫度上，溫度沖擊試驗(yàn)箱能在短時(shí)間內(nèi)實(shí)現(xiàn)快速溫變。