無(wú)錫冠亞射流式高低溫沖擊測(cè)試機(jī)

給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供快速的環(huán)境溫度。

是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估*的儀器設(shè)備。

廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體企業(yè)、航空航天、光通訊、高校、研究所等領(lǐng)域。

高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀工作原理

高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀工作原理

　　【適用范圍】

　　無(wú)錫冠亞AES系列高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC、PCB 電路板IC、光通訊（如收發(fā)器 transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）、電子行業(yè)等進(jìn)行IC 特性分析、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

　　【工作原理】

　　1、高低溫沖擊系統(tǒng)測(cè)試儀試驗(yàn)機(jī)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；

　　2、可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

　　【選購(gòu)要點(diǎn)】

　　選購(gòu)冷熱沖擊試驗(yàn)箱要注意五個(gè)方面：沖擊溫度、試驗(yàn)負(fù)載、復(fù)歸時(shí)間、除霜時(shí)間、放置位置。

　　沖擊溫度：是指測(cè)試區(qū)實(shí)際能夠跑到的溫度 范圍。注意不是預(yù)熱和預(yù)冷室的溫度；

　　試驗(yàn)負(fù)載：直接影響能夠放置多少測(cè)試品。一般說(shuō)來(lái)，這個(gè)重量越大越好；

　　復(fù)歸時(shí)間：它是指測(cè)試品全部從一個(gè)溫度點(diǎn)切換到另外一個(gè)溫度點(diǎn)所耗費(fèi)的時(shí)間；

　　除霜間隔時(shí)間越長(zhǎng)越好?，F(xiàn)在有些廠家能夠做到1000cycles除霜一次，是非常適合的。除霜間隔越短說(shuō)明該設(shè)備的氣密性越差；

sensor必須放置在測(cè)試區(qū)內(nèi)部。有些廠家將sensor放置在風(fēng)道內(nèi)部，雖然與測(cè)試區(qū)只有10cm的距離，但是這個(gè)能量差異是相當(dāng)大的。且不能夠真實(shí)反映測(cè)試品表面的溫度變化。