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chiller unit元器件高低溫測試機低壓報警
元器件高低溫測試裝置在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試...
型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:16:00
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:13:45
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:11:19
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:08:52
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:07:06
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/1/7 7:05:33
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型號: TES-4525
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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型號: TES-4525
所在地:無錫市
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流體控溫裝置chiller unit保養(yǎng)知識
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型號: TES-4525
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型號: TES-4525
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面議更新時間:2024/1/6 21:50:17
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半導體制冷冷水機滿足溫度控制需求
半導體制冷冷水機滿足溫度控制需求的典型應用:適合元器件測試用設備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫度(-85℃...
型號: TES-85A25...
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面議更新時間:2024/1/3 16:09:31
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芯片高低溫測試元器件測試用設備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器
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-85℃- 250℃納米半導體/元器件冷水機
-85℃- 250℃納米半導體/元器件冷水機的典型應用:適合元器件測試用設備,在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產的測試階段包括在溫...
型號: TES-8555W
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面議更新時間:2024/1/3 16:07:50
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芯片高低溫測試元器件測試用設備高低溫一體機冷熱一體機制冷加熱循環(huán)器