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參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌Ophir
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2024-11-12 14:39:50瀏覽次數(shù):373次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)700-1800nm 20µm至~6mm 狹縫掃描激光分析儀
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測(cè)量技術(shù),通過(guò)狹縫 / 小孔取樣激光光束的一部分,將取樣部分通過(guò)單點(diǎn)光電探測(cè)器測(cè)量強(qiáng)度,再通過(guò)掃描狹縫 / 小孔的位置,復(fù)原整個(gè)光斑的分布。
掃描式光束分析儀的優(yōu)點(diǎn) :
取樣尺度可以到微米量級(jí),遠(yuǎn)小于 CCD 像素,可獲得較高的空間分辨率而無(wú)需放大;
采用單點(diǎn)探測(cè)器,適應(yīng)紫外 ~ 中遠(yuǎn)紅外寬范圍波段;
單點(diǎn)探測(cè)器具備很高的動(dòng)態(tài)范圍,一個(gè)探頭可同時(shí)適應(yīng)弱光和強(qiáng)光分析。
掃描式光束分析儀的缺點(diǎn) :
多次掃描重構(gòu)光束分布,不適合輸出不穩(wěn)定的激光;
不適合非典型分布的激光,近場(chǎng)光斑有熱斑、有條紋等的狀況。
掃描式光束分析儀與相機(jī)式光束分析儀是互補(bǔ)關(guān)系而非替代關(guān)系;在很多應(yīng)用,如小光斑測(cè)量(焦點(diǎn)測(cè)量)、紅外高分辨率光束分析等方面,掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢(shì)。
NanoScan 2s Si/3.5/1.8狹縫掃描光束分析儀
NanoScan 2s Si/3.5/1.8 7µm至~2.3mm
NanoScan狹縫掃描式光束輪廓分析儀通過(guò)其硅探測(cè)器,精確捕獲和分析190nm - 1100nm的波長(zhǎng)。該分析儀包括適合于小光束的狹縫尺寸、近實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)捕獲率、可選的功率測(cè)量功能等特征,且可在連續(xù)或kHz脈沖模式下工作,非常適合于對(duì)UV、VIS和NIR激光進(jìn)行全面分析。
光束尺寸7µm至~2.3mm
功率級(jí)范圍為~10nW至~10W
USB 2.0接口
包含NanoScan標(biāo)準(zhǔn)或?qū)I(yè)軟件
PH00456
NS2s-SI/3.5/1.8-STD
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:硅探測(cè)器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫
PH00464
NS2s-Si/3.5/1.8-PRO
狹縫掃描式小光束輪廓分析儀:硅探測(cè)器,3.5mm孔徑,1.8µm狹縫
產(chǎn)品規(guī)格
產(chǎn)品名稱:NanoScan 2s Si/3.5/1.8
傳感器類型:Silicon Photodetector
光譜范圍:190 to 1100 nm
狹縫尺寸:1.8 µm
孔徑尺寸:3.5 mm
光束尺寸:7 μm to 2.3 mm
掃描頭尺寸:83 mm
功率范圍:10 nW to 10 W
通信:USB 2.0
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