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產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	應(yīng)用領(lǐng)域	化工,電子,電氣

安柏AT2617電容測(cè)試儀

AT261X系列是電容測(cè)試儀，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型臺(tái)式儀器。儀器可以選擇200kHz（AT2616）的測(cè)試頻率，并可選擇0.1V，0.3V，0.5V和1.0Vrms的測(cè)試信號(hào)電平。

主副參數(shù)全5位顯示，可以同時(shí)顯示Z、R、A、A%的一種。高達(dá)0.1%的準(zhǔn)確度，使本儀器可滿足自動(dòng)化設(shè)備制造廠家、各元件生產(chǎn)和使用廠家、學(xué)校、研究所和計(jì)量質(zhì)檢部門進(jìn)行精確測(cè)試和批量生產(chǎn)的要求。

儀器擁有專業(yè)分選功能，具有10組存儲(chǔ)文件，可編程3檔合格檔，1檔附屬檔（副參數(shù)不合格），1檔不合格檔和主參數(shù)HI/IN/LO檔，可設(shè)置百分比分選或絕對(duì)值分選，配備USB接口、Handler接口和RS-232C接口改良設(shè)計(jì)的AT261X，加強(qiáng)了整機(jī)抗干擾電路和保護(hù)電路，滿足自動(dòng)化設(shè)備（分選機(jī)、老化機(jī)等）的復(fù)雜使用環(huán)境。

特征

真彩TFT-LCD顯示。

儲(chǔ)存999個(gè)LCD畫面檔案，觸發(fā)延遲

校正功能：全量程程開(kāi)路和短路掃頻清零

校準(zhǔn)功能

比較器功能（分選功能）

文件功能：儀器內(nèi)部Flash存儲(chǔ)器有10個(gè)文件可供您用來(lái)保存儀器數(shù)據(jù)，

可編程1～256次平均次數(shù)，提供穩(wěn)定性。

自定義分選結(jié)果訊響。

內(nèi)置RS232C/RS485/USB接口和Handler接口，可選GPIB接口。

SCPI和Modbus 通信協(xié)議。

安柏AT2617電容測(cè)試儀規(guī)格

測(cè)量參數(shù)	Cs-Rs, Cs-D, Cp-Rp, Cp-D, Rs-Q,Rp-Q, Z-D, Z-Q
基本準(zhǔn)確度	0.1%
測(cè)試頻率	100, 120, 1kHz, 10kHz, 100kHz 0.01%
測(cè)試量程	自動(dòng)、手動(dòng)和標(biāo)稱量程，9量程
測(cè)試速度	30 次/秒, 10 次/秒, 3 次/秒
顯示范圍	C: 0.0001pF – 9.9999mF R,Z: 0.0001Ω - 99.999MΩ D, 0.0001 – 9.9999 Q: 0.0001 – 9999.9 Δ%: -999.999% - 999.999%
輸出阻抗	30Ω，100Ω
監(jiān)視參數(shù)	Z, R, Δ, Δ%
讀數(shù)	99999
等效方式	串聯(lián)和并聯(lián)等效
信號(hào)電平	ACV：10.00mV~2.00V,準(zhǔn)確度：10%,CV模式準(zhǔn)確度：6%
平均次數(shù)	1~256
觸發(fā)方式	內(nèi)部、手動(dòng)、外部和遠(yuǎn)程
觸發(fā)延時(shí)	0.01ms~60s
比較器	合格檔（BIN1-BIN3）：表示主副參數(shù)均合格；附屬檔（AUX）：表示附屬檔打開(kāi)時(shí)，主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格；不合格檔（OUT）：主參數(shù)不合格，或者，附屬檔關(guān)閉時(shí)主參數(shù)合格但副參數(shù)不合格。 HI/IN/LO：主參數(shù)更詳細(xì)的比較結(jié)果，HI：主參數(shù)偏高，LO：主參數(shù)偏低，IN：主參數(shù)合格
比較方式	順序/絕對(duì)偏差/相對(duì)偏差
校準(zhǔn)	開(kāi)路清零、短路清零（掃頻和點(diǎn)頻)
文件	內(nèi)部存儲(chǔ)10個(gè)文件外部USB存儲(chǔ)10個(gè)文件
數(shù)據(jù)記錄	9999 組文件（.csv)
訊響功能	關(guān)/合格/不合格
接口	處理機(jī)（Handler）接口/RS232接口/RS485接口/GPIB接口（選件）
通訊協(xié)議	SCPI/Modbus
電源要求	90V-260VAC，50Hz至60Hz
尺寸與重量	264(寬)x107(高)x349.5 (深) 3kg,凈重