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數(shù)字式四探針測試儀

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  • 型號 XNC-2253
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時間:2021-12-11 19:34:09瀏覽次數(shù):195

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),農(nóng)業(yè),地礦,電子
電 阻 1×10-4~2×105 Ω
XNC-2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。

詳細介紹

XNC-2253數(shù)字式四探針測試儀


      XNC-2253數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。

    儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。

    主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??!

    探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。

    測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-ASZT-BSZT-CSZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。

      詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入

    儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。

儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。

三、基本技術參數(shù)

3.1  測量范圍

       阻:1×10-42×105 Ω   ,分辨率:1×10-51×102 Ω

    電阻率:1×10-42×105 Ω-cm,分辨率:1×10-51×102 Ω-cm

      阻:5×10-42×105 Ω/□,分辨率:5×10-51×102 Ω/

3.2  材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)

         徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15130mm,手持方式不限

    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.

    ()度:測試臺直接測試方式 H100mm,    手持方式不限.

    測量方位: 軸向、徑向均可

3.3.  4-1/2 位數(shù)字電壓表:

    (1)量程: 20.00mV2000mV

   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2

3.4 數(shù)控恒流源

    (1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA1A

   (2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2

3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)

    (1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 02kg 可調(diào)

   (2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 00.6kg 可調(diào)

3.6. 電源

    輸入: AC 220V±10% ,50Hz          耗:<20W

3.7.外形尺寸:

         220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)

      重:≤2.5kg

 


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