澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：450000
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無重影、拖影，不錯(cuò)過每一個(gè)細(xì)節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸...
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：350000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復(fù)雜的安裝過程?！?體積小巧：便于放置在普通的實(shí)驗(yàn)臺面上，節(jié)省空間?！?高性價(jià)比：預(yù)對中鎢燈絲設(shè)計(jì)，用戶可以自行更換，降低了...
Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統(tǒng) 參考價(jià)：700000
通過緊湊型設(shè)計(jì)和多功能性的統(tǒng)一結(jié)合，Sensofar 集成式3D高精度3D表面測量系統(tǒng) 是市面上*的可集成的區(qū)域共聚焦傳感器,S mart 2 的設(shè)計(jì)非常易于集...
Sensofar 高精度3D表面測量系統(tǒng)S lynx 2 參考價(jià)：800000
Sensofar 高精度3D表面測量系統(tǒng)S lynx 2是一款多功能、用途廣泛的3D光學(xué)輪廓儀，用于粗糙度、體積和臨界尺寸測量。
Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統(tǒng) 參考價(jià)：2000000
此款西班牙Sensofar 5軸高精度3D表面測量系統(tǒng) S neox Five Axis 結(jié)合了高精度旋轉(zhuǎn)模塊和S neox 3D光學(xué)輪廓儀的先進(jìn)檢測和分析功能...
Sensofar 高精度3D表面測量系統(tǒng)S neox 參考價(jià)：1500000
新型西班牙Sensofar 高精度3D表面測量系統(tǒng)S neox在性能、功能、效 率和設(shè)計(jì)方面優(yōu)于現(xiàn)有的三維共聚焦白光干涉儀，是Sensofar 的新一 代*測量...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
半自動臺階儀 JS100B 參考價(jià)：面議
半自動臺階儀 JS100B 國產(chǎn)半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS100B...
手動臺階儀 JS10B 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)手動手動臺階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS10B提供一個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像，可無畸變...
全自動臺階儀 JS2000B 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)全全自動臺階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像，...
全自動臺階儀 JS3000B 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)全自動臺階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對樣品和針尖同時(shí)成像，可...
澤攸ZP3-4 微納探針臺 參考價(jià)：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺 可以快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、使用場景多樣化、完善的技術(shù)解決方案、直觀、方便、高度集成。
澤攸SEM納米探針臺 參考價(jià)：面議
澤攸SEM納米探針臺產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06 參考價(jià)：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺 LHe-6H-06產(chǎn)品特點(diǎn)，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個(gè)用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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