透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可...
透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在...
透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射...
透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)...
透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場測量系統(tǒng)是原位透射電子顯微鏡實驗系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電...
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統(tǒng)，同時集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時進(jìn)行定量的力學(xué)測量。
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng) 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統(tǒng)可以實現(xiàn)包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場耦合研究。
SEM熱電芯片臺 參考價：面議
SEM熱電芯片臺可搭配電學(xué)測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價：面議
SEM冷凍真空傳輸系統(tǒng)高匹配360°(無限)旋轉(zhuǎn)冷臺，冷臺傾轉(zhuǎn)角度55°，冷臺溫度≤180℃。
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng) 參考價：面議
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測量(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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