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Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1
我們擁有一系列高性能，高可靠性的單個熒光帶通濾光片，這些濾光片已針對各種熒光儀器進(jìn)行了優(yōu)化。這些濾光片只利用我們的單基層結(jié)構(gòu)，以達(dá)到最高的性能和可靠度。

Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1

我們擁有一系列高性能，高可靠性的單個熒光帶通濾光片，這些濾光片已針對各種熒光儀器進(jìn)行了優(yōu)化。這些濾光片只利用我們的單基層結(jié)構(gòu)，以達(dá)到最高的性能和可靠度。

除非另有說明，否則所有過濾器均采用標(biāo)準(zhǔn)25 mm圓形黑色陽極氧化鋁環(huán)封裝，其厚度如圖所示，透明孔徑至少為21 mm。用“- d"表示的部件將被卸載。

Semrock BrightLine單波段帶通濾光片-1

中心波長	平均透射率以及帶寬	安裝尺寸（直徑x厚度）	玻璃厚度	型號
403 nm	See VersaChrome EdgeTM filters, page 78			FF01-403/95-25
405 nm	See Laser Diode Clean-Up filters, page 94			LD01-405/10-25
405 nm	> 87% over 10 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-405/10-25
405 nm	> 90% over 150 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-405/150-25
406 nm	> 85% over 15 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-406/15-25
414 nm	> 90% over 46 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-414/46-25
415 nm	> 90% over 10 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-415/10-25
417 nm	> 90% over 60 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-417/60-25
420 nm	> 90% over 5 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-420/5-25
420 nm	> 90% over 10 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-420/10-25
425 nm	> 90% over 26 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-425/26-25
427 nm	> 93% over 10 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-427/10-25
433 nm	> 93% over 24 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-433/24-25
434 nm	> 90% over 17 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-434/17-25
435 nm	> 90% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-435/40-25
438 nm	> 93% over 24 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-438/24-25
439 nm	> 93% over 154 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-439/154-25
440 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-440/40-25
442 nm	> 90% over 46 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-442/46-25
445 nm	> 93% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-445/20-25
445 nm	> 90% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-445/40-25
445 nm	> 90% over 45 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-445/45-25
447 nm	> 93% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF02-447/60-25
448 nm	> 93% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-448/20-25
450 nm	> 90% over 70 mm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-450/70-25
452 nm	> 93% over 45 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-452/45-25
457 nm	> 90% over 50 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-457/50-25
458 nm	> 90% over 64 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-458/64-25
460 nm	> 90% over 14 nm	25 mm x 5.0 mm	3.0 mm	FF01-460/14-25
460 nm	> 90% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-460/60-25
460 nm	> 90% over 80 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-460/80-25
461 nm	> 90% over 5 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-461/5-25
465 nm	> 90% over 30 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-465/30-25
466 nm	> 90% over 5 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-466/5-25
466 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-466/40-25
469 nm	> 90% over 35 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-469/35-25
470 nm	> 93% over 22 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-470/22-25
470 nm	> 90% over 28 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-470/28-25
470 nm	> 93% over 100 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-470/100-25
472 nm	> 93% over 30 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-472/30-25
473 nm	> 90% over 10 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-473/10-25
474 nm	> 93% over 23 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-474/23-25
474 nm	> 93% over 27 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-474/27-25
475 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF02-475/20-25
475 nm	> 92% over 23 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-475/23-25
475 nm	> 90% over 28 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-475/28-25
475 nm	> 90% over 35 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-475/35-25
475 nm	> 90% over 42 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-475/42-25
475 nm	> 93% over 50 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-475/50-25
479 nm	> 90% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-479/40-25
480 nm	> 92% over 17 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-480/17-25
480 nm	> 90% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm	1.05 mm	FF01-480/40-25
482 nm	> 93% over 18 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-482/18-25
482 nm	> 93% over 25 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-482/25-25
482 nm	> 93% over 35 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-482/35-25
483 nm	> 93% over 32 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-483/32-25
485 nm	> 93% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-485/20-25
488 nm	> 90% over 6 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-488/6-25
488 nm	> 93% over 10 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-488/10-25
488 nm	> 93% over 50 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-488/50-25
490 nm	> 93% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-490/60-25
494 nm	> 93% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-494/20-25
494 nm	> 90% over 41 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-494/41-25
496 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	3.0 mm	FF01-496/20-25
497 nm	> 90% over 16 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-497/16-25
500 nm	> 90% over 10 nm	25 mm x 3.5 mm	1.05 mm	FF01-500/10-25
500 nm	> 93% over 15 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-500/15-25
500 nm	> 93% over 24 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-500/24-25
503 nm	> 93% over 40 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-503/40-25
504 nm	> 93% over 12 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-504/12-25
509 nm	> 93% over 22 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-509/22-25
510 nm	> 93% over 10 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF02-510/10-25
510 nm	> 93% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF03-510/20-25
510 nm	> 90% over 42 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-510/42-25
510 nm	> 93% over 84 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-510/84-25
511 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-511/20-25
512 nm	> 92% over 25 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-512/25-25
513 nm	> 90% over 17 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-513/17-25
514 nm	> 93% over 3 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-514/3 -25
514 nm	> 93% over 30 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-514/30-25
514 nm	> 93% over 44 nm	25 mm x 3.5 mm	1.05 mm	FF01-514/44-25
517 nm	> 90% over 20 nm	25 mm x 5.0 mm	3.5 mm	FF01-517/20-25
520 nm	> 93% over 5 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-520/5-25
520 nm	> 93% over 15 nm	25 mm x 5.0 mm	2.0 mm	FF01-520/15-25
520 nm	> 93% over 28 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF02-520/28-25
520 nm	> 93% over 35 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-520/35-25
520 nm	> 90% over 44 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-520/44-25
520 nm	> 90% over 60 nm	25 mm x 3.5 mm	2.0 mm	FF01-520/60-25

光學(xué)濾光片簡介

濾光片選擇性地透射光譜的一部分，同時拒絕透射其余部分。愛特蒙特光學(xué)的光學(xué)濾光片常用于顯微鏡、光譜學(xué)、化學(xué)分析和機(jī)器視覺，可提供各種過濾類型和精度等級。本應(yīng)用筆記介紹了用于制造愛特蒙特光學(xué)濾光片的不同技術(shù)、一些關(guān)鍵規(guī)范的定義以及愛特蒙特光學(xué)提供的各種濾光片的描述。

光學(xué)濾光片關(guān)鍵術(shù)語

雖然濾光片與其他光學(xué)組件有許多相同的規(guī)范，但是為了有效地了解并確定哪種濾光片適合您的應(yīng)用，應(yīng)該了解濾光片中的許多特定規(guī)范。

中心波長 (CWL)

用于定義帶通濾光片的中心波長描述頻譜帶寬的中點，濾光片在此之上傳輸。傳統(tǒng)的鍍膜光學(xué)濾光片傾向于在中心波長附近達(dá)到大的透射率，而鍍加硬膜的光學(xué)濾光片往往在光譜帶寬上有相當(dāng)平坦的傳輸輪廓。

帶寬

帶寬是一個波長范圍，用于表示頻譜通過入射能量穿過濾光片的特定部分。帶寬又稱為FWHM（圖1）。

圖 1: 中心波長和半峰全寬說明

半峰全寬 (FWHM)

FWHM
描述帶通濾光片將傳輸?shù)念l譜帶寬。該帶寬的上限和下限是在濾光片達(dá)到大透射率的 50% 時的波長下定義的。例如，如果濾光片的大透射率是 90%，那么濾光片達(dá)到透射率之 45% 時的波長將定義 FWHM 的上限和下限。10 納米或更低的 FWHM 被認(rèn)為是窄帶，通常用于激光凈化和化學(xué)檢測。25-50 納米的 FWHM 經(jīng)常用于機(jī)器視覺應(yīng)用；超過 50 納米的 FHWM 被認(rèn)為是寬帶，通常用于熒光顯微鏡應(yīng)用。

截止范圍

阻斷范圍是用于表示通過濾光片衰減的能量光譜區(qū)域的波長間隔（圖2）。阻斷程度通常會在光密度中定。

圖 2: 截止范圍說明

斜率

斜率是通常在邊緣濾光片上定義的規(guī)范，如短波通或長波通濾光片，用來描述濾光片從高截止轉(zhuǎn)換為高透射率的帶寬。可以從各種起點和終點定斜率，作為截止波長的百分比。愛特蒙特光學(xué)有限公司通常將斜率定義為從 10% 傳輸點到 80% 傳輸點的距離。例如，將期望具有 1% 斜率的 500 納米長波通濾光片在 5 納米（500 納米的 1%）帶寬上從 10% 的透射率轉(zhuǎn)換為 80% 的透射率。

光密度(OD)

光密度描述被濾光片阻斷或拒絕的能量量。高光密度值表示低透射率，低光密度則表示高透射率。6.0或更大的光密度用于兩端的阻斷需求，如拉曼光譜或熒光顯微鏡。3.0-4.0的光密度是激光分離和凈化、機(jī)器視覺和化學(xué)檢測的理想選擇，而 2.0 或更少的光密度是顏色排序和分離光譜順序的理想選擇。

圖3:光密度說明

二向色性濾光片

二向色性濾光片是用于取決于波長透射率或反射光的濾光片類型；特定波長范圍透射的光則鑒于不同范圍的光線反射或吸收（圖4）。二向色性濾光片常用于長波通和短波通應(yīng)用。

圖4:二向色性濾光片鍍膜說明

起始波長

起始波長是用于表示在長波通濾光片中透射率增加至50%波長的術(shù)語。起始波長由圖5中的λcut-on起始表示。

圖 5:起始波長說明

截止波長

截止波長是用于表示在短波通濾光片中透射率降低至50%波長的術(shù)語。截止波長由圖6中的λcut-off截止表示。

圖6:截止波長說明

Semrock成功地將穩(wěn)定先進(jìn)的濺射沉積系統(tǒng)與沉積控制技術(shù)，不同的預(yù)測算法，工藝改進(jìn)和批量生產(chǎn)能力相結(jié)合。Semrock性能優(yōu)良的光學(xué)濾光片為生物技術(shù)和分析儀器行業(yè)樹立了標(biāo)準(zhǔn)。

Semrock濾光片全部由離子束濺射和專有的單基片結(jié)構(gòu)制成，可實現(xiàn)較高的透射率。更加陡峭的邊緣，準(zhǔn)確的波長精度和精心優(yōu)化的遮擋意味著更好的對比度和更快的測量-即使在紫外線波長下也是如此。

Semrock濾光片具有很長的使用壽命和優(yōu)良的性能，可確保獲得優(yōu)良的圖像。與升級相機(jī)和物鏡的成本相比，它們可能是提高顯微鏡性能的簡單經(jīng)濟(jì)的方法。

經(jīng)驗證的可靠性

所有Semrock濾光片均具有出色的可靠性。簡單的全玻璃結(jié)構(gòu)加上離子束濺射硬玻璃涂層（與涂層玻璃一樣堅硬）意味著它們幾乎不受濕度和溫度引起的降解的影響，并且易于清潔和處理。

我們充滿信心地為濾光片提供全面保修，讓您放心。我們的濾光片經(jīng)過精心設(shè)計，可以在逐年測試中保持其高水平的性能，并通過消除費用和更換成本的不確定性來降低您的擁有成本。

下圖顯示了隨著時間的推移，氙弧燈的暴露如何影響每個濾光片的光譜特性。一天之后，傳統(tǒng)的軟涂層DAPI濾光片的透射率下降了42％。我們對其他常見的勵磁濾光片進(jìn)行了類似的測試，發(fā)現(xiàn)每個軟涂層濾光片都會損失傳輸和通帶，而硬涂層Semrock濾光片則不會受到影響。

Semrock濾光片已經(jīng)過測試，可以滿足或超過在苛刻的軍事規(guī)格MIL-STD-810F，MIL-C-48497A，MIL-C-675C和國際標(biāo)準(zhǔn)ISO 9022-中規(guī)定的環(huán)境和物理耐久性要求。

可重復(fù)的結(jié)果

無論您是從一次運行還是從最后一次運行使用濾光片，結(jié)果都將始終相同。我們高度自動化的批量生產(chǎn)系統(tǒng)會密切監(jiān)控流程的每個步驟，以確保每個濾光片的質(zhì)量和性能。最終用戶受益于濾光片之間可變性的降低，OEM制造商可以依靠安全可靠的供應(yīng)線。

Kola Deep™光譜測量系統(tǒng)：測量更深的阻擋

圖1：即使在紫外線遠(yuǎn)處，Kola Deep系統(tǒng)也能準(zhǔn)確測量狹窄的LaserLine濾光片（Semrock LL01-248），其陡峭的邊緣從高透射率到超過OD7。藍(lán)色顯示的Kola Deep測量值可以準(zhǔn)確地跟蹤綠色的理論曲線。為了進(jìn)行比較，標(biāo)準(zhǔn)光譜儀（Perkin Elmer Lambda 950）的測量結(jié)果以紅色顯示，并在OD 3處停止跟蹤邊緣。

可樂深光譜測量系統(tǒng)將光密度（OD）理論帶入了測量現(xiàn)實。我們的工程師開發(fā)了一套專有的新系統(tǒng)，可以對Semrock品牌光學(xué)濾波器的陡和深光譜特征進(jìn)行可靠的測量，從而確保您的儀器將提供優(yōu)良的靈敏度。

?Kola Deep可以評估在紫外，可見和近紅外光譜中對OD 9+的阻擋

?Kola Deep解決了相對于邊緣波長大于0.2％的邊緣，從90％透射到OD 7以上的問題

濾光片的測量

由于標(biāo)準(zhǔn)計量技術(shù)的局限性，經(jīng)常無法準(zhǔn)確地確定薄膜干涉濾光片的測量光譜特性，尤其是在邊緣較陡而較深的情況下。光學(xué)濾波器提供的實際阻塞不僅取決于其設(shè)計頻譜，還取決于濾波器的物理缺陷，例如在薄膜涂層過程中產(chǎn)生的針孔以及諸如灰塵或灰塵之類的表面缺陷。使用市場上可買到的分光光度計來測量光學(xué)濾光片的光譜性能，但是當(dāng)光學(xué)濾光片具有較高的邊緣陡度和/或非常深的阻塞時，這些儀器可能會受到重大限制。

由于這些限制，實際濾波器頻譜與其測得的表示之間存在三個主要差異（見圖2）。一個差異是尖銳的光譜特征的“四舍五入"。這是由于分光光度計探頭光束的帶寬不為零所致。第二個測量差異是有限的OD測量范圍，這是分光光度計靈敏度有限的結(jié)果。第三差異是從高阻塞到高傳輸?shù)姆浅６盖瓦^渡的測量所不同的，被稱為“邊帶測量偽像"。該偽像是由非單色探測光束引起的，該探測光束在其帶寬之外的波長處也具有較弱的邊帶。

圖2：使用商用分光光度計觀察到的測量偽影

Semrock利用替代方法來評估濾光片光譜。圖3顯示了“ E級"RazorEdge®濾光片的陡峭邊緣的五個測量光譜，該光譜可確保在OD> 6的情況下阻擋532 nm的激光線，并在激光波長的0.5％之內(nèi)過渡到高透射率（534.7倍）納米）。測得的光譜覆蓋在濾波器的設(shè)計光譜上（藍(lán)線）。如圖所示，測量儀器和技術(shù)極大地影響了濾波器的測量光譜。該圖中的測量方法A來自定制的分光光度計。此測量使用儀器設(shè)置，例如較短的檢測器積分時間和低分辨率，因為這些設(shè)置經(jīng)過優(yōu)化，可在薄膜濾光片制造過程中從大量樣品濾光片非?？焖俚厥占瘮?shù)據(jù)。但是，這種方法的靈敏度和分辨率很差。測量方法B使用標(biāo)準(zhǔn)的商業(yè)分光光度計（Perkin Elmer Lambda 900系列）。如上所述，實際濾波器光譜與測量光譜之間的所有差異在此測量中都是顯而易見的。測量方法C和D使用與方法A相同的定制分光光度計。該分光光度計的基本工作原理如圖4所示。該儀器使用低噪聲CMOS攝像頭（即檢測器陣列），能夠測量同時具有很寬的波長范圍。測量方法C使用的儀器設(shè)置（主要是積分時間和分辨率）設(shè)計用于增強(qiáng)對陡峭邊緣和深邊緣的測量，但是“邊帶測量偽影"仍然很明顯。測量方法D是對方法C的修改，該方法應(yīng)用了其他過濾以消除此偽像。方法E顯示了使用經(jīng)過仔細(xì)過濾的532 nm激光進(jìn)行的非常準(zhǔn)確的測量結(jié)果，以及濾光器本身的角度調(diào)整。使用理論模型，將實驗獲得的透射率與角度的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為透射率與波長的結(jié)果。此測量方法接近實際設(shè)計曲線，但是不適用于大量過濾器的質(zhì)量保證。

圖3：使用文中所述的不同測量方法，同一濾波器（圖1）的設(shè)計和測量光譜

圖4：定制的分光光度計，可實現(xiàn)更快，更準(zhǔn)確的測量

總之，重要的是要了解用于生成光學(xué)濾光片光譜的測量技術(shù)，因為這些技術(shù)并不很優(yōu)良。對給定的過濾器或應(yīng)用程序使用適當(dāng)?shù)臏y量方法可以減少錯誤，并減少使用過濾器的實驗和系統(tǒng)的過度設(shè)計，從而優(yōu)化性能，結(jié)果，甚至過濾器成本。

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