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三維光學(xué)共聚焦顯微鏡

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更新時(shí)間:2024/08/07 14:27:39瀏覽次數(shù):338

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合
多功能 3D/三維光學(xué)共聚焦顯微鏡( OPTELICS HYBRID+,三維表面輪廓儀/三維表面形貌儀 ),高度方向測量精度達(dá)0.05nm;系統(tǒng)整合了白光共聚焦+激光共聚焦技術(shù);以雙共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),集6項(xiàng)測試功能于一體,包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉測量、垂直白光干涉測量、相差干涉測量、反射分光膜厚測量等功能。

詳細(xì)介紹

多功能 3D/三維光學(xué)共聚焦顯微鏡 OPTELICS HYBRID+,三維表面輪廓儀/三維表面形貌儀 ),高度方向測量精度達(dá)0.05nm系統(tǒng)整合了白光共聚焦+激光共聚焦技術(shù);以雙共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),集6項(xiàng)測試功能于一體,包括白光共聚焦、激光共聚焦、微分干涉測量、垂直白光干涉測量、相差干涉測量、反射分光膜厚測量等功能;通常多臺設(shè)備才能完成的測量,僅需一臺設(shè)備即可實(shí)現(xiàn),解決了需要使用多種工具的麻煩,滿足在各種測量場景中的測試需求。


  • 提供6個(gè)測試功能模塊,應(yīng)對多樣測量需求

  • 滿足行業(yè)測試規(guī)格要求,High精度

  • 提供多種測量和分析

  • 自動化測量技術(shù),高效測量


適用于滿足多樣場景測試需求

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡(三維表面輪廓儀/三維表面形貌儀) 一個(gè)平臺提供6種測試功能:

       

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


     

      

1. 白光共聚焦

寬視野+High精度測量

高清彩色觀察

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡



2. 激光共聚焦

高倍·High 分辨率觀察

搭載波長405nm的紫色半導(dǎo)體激光,無需前處理,以可媲美電子顯微鏡的High分辨率,鮮明捕捉納米級細(xì)微構(gòu)造。

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡



3. 微分干涉測量

納米級凹凸觀察

共聚焦與微分干涉(DIC)相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)細(xì)微凹凸形狀的可視化。由于焦點(diǎn)深度極低,對于透明樣品可以排除其背面的影響僅對表面進(jìn)行觀察。

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡



4. 垂直白光干涉測量

數(shù)毫米寬廣視野內(nèi)的納米級形狀測量

白光通過雙光束干涉鏡產(chǎn)生的干涉波形,通過垂直方向掃描找到干涉光強(qiáng)度高點(diǎn),得到樣品的高度分布數(shù)據(jù)。原理上,高度分辨率不受物鏡放大倍數(shù)影響,因此可使用低倍鏡快速完成寬視野范圍測量。

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡



5. 反射分光膜厚測量

納米級透明膜厚測量

利用波長切換功能對6個(gè)波長的絕對反射率進(jìn)行測量,光學(xué)建模計(jì)算得到膜厚。數(shù)nm~1μm的單層/多層膜厚可測量。測量區(qū)域在共聚焦觀察圖像上確定,亞微米區(qū)域~全視野的數(shù)mm區(qū)域的平均膜厚均可測量。而且因各個(gè)像素(pixel)的膜厚能夠計(jì)測,所以可以測量膜厚分布。

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡



6. 相差干涉測量

埃米級形狀測量

白光通過雙光束干涉鏡產(chǎn)生的干涉條紋,與從樣品反射回的反射光的光程差直接相關(guān)。在垂直方向細(xì)微移動得到4組干涉圖像,通過解析實(shí)現(xiàn)高分辨率的高度分布測量。

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


多種波長切換

三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


測量速度快

3D 形貌測量共聚焦顯微鏡(HYBRID)實(shí)現(xiàn)了業(yè)界快速幀率(15Hz~120Hz)掃描,實(shí)現(xiàn)圖像拼接、自動測量、自動缺陷檢測和快速測量。


High精度測量

三維形貌測量共聚焦顯微鏡(HYBRID)高度方向測量精度達(dá)0.05nm。


提供各種測量,分析和支持功能,具有可用性

LM eye是HYBRID的測量和分析軟件,提供多種功能,幫助您順利操作


測量和分析功能

可以測量和分析參數(shù),包括輪廓,粗糙度和薄膜厚度


三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


測量支持功能

HYBRID提供各種測量、分析


三維光學(xué)共聚焦顯微鏡




自動化操作,效率更高

LIBRA

LIBRA 是一個(gè)軟件程序,它使用定義的平臺執(zhí)行自動測量。


三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


LM 檢測 

LM Inspect 是一個(gè)軟件程序,可以自動檢測基材上的小顆粒和缺陷。并且支持使用缺陷審查和深度學(xué)習(xí)進(jìn)行高精度缺陷分類。


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其他型號


三維光學(xué)共聚焦顯微鏡


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